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Dimension XR 是基于 Dimension Icon 平台打造的旗舰科研型扫描探针显微镜，分为纳米力学、纳米电学、纳米电化学三套整机方案，集成多项独家高级成像模式，支持大气、液相电化学环境，面向前沿材料科学深度定量表征。
参数详情
扫描范围：XY 90μm×90μm，Z 轴 12μm
闭环定位噪声：XY≤125pm RMS，Z 传感器噪声≤30pm RMS
系统热漂移：＜200pm / 分钟
样品承载：最大 210mm 直径样品，厚度≤15mm，电动 XY 样品台
光学系统：自动对焦，数字变焦，500 万像素成像相机
基础扫描模式：接触模式、轻敲模式、PeakForce Tapping、力曲线
核心特色模式：PeakForce‑QNM 纳米力学、AFM‑nDMA 纳米动态力学、Fast‑Force Volume 高速力谱、DataCube 高光谱电学成像
高分子与凝胶材料：聚合物纳米模量、黏弹性、AFM‑nDMA 纳尺度流变性能表征
二维材料科研：石墨烯、TMD 材料形貌、缺陷、局域电学、压电性质定量成像
能源材料：锂电池、燃料电池电极原位电化学形貌与活性分布测试，腐蚀机理研究
半导体与功能薄膜：铁电、压电、介电薄膜微区电学、压电机理分析
生物材料：水凝胶、生物大分子、细胞液相环境下形貌与纳米力学测试