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计量检测设备,半导体,电子测试测量仪器
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- 通道与功率：1U 高的机箱中集成了四个 20W SMU 通道，可提供 20V@1A 和 6V@3A 功率包络。
- 功能集成：融合了精密电源、真实电流源、6 位半数字万用表、任意波形发生器和脉冲发生器的功能。
- 测量精度：具有 0.015% 的 DCV 基本准确度，电压和电流测量分辨率可达 100nV 和 0.1fA，具备 6 位半分辨率。
- 通信接口：配备前面板 LAN（LXI-C）、USB 2.0 TMC488 协议和数字 I/O 接口，还支持基于网络浏览器的远程控制，可通过任何电脑从全球各地与仪器通信。
- 特殊技术：内置测试脚本处理器（TSP®）技术，可在仪器内部运行完整测试程序，提升测试效率。TSP-Link® 技术支持扩展多达 64 条通道，能实现高速、SMU-per-pin 并行测试，且所有通道可在 500ns 内同时独立受控。
- 结构设计：可堆叠，仪器之间无需 1U 间隔，节省机架空间，方便在有限空间内部署多通道测试系统。
- 光电器件测试：可用于 3D 传感应用中的激光二极管（VCSEL）生产测试，能作为电流源并监测激光二极管模块光电二极管电流，是经济实惠的 LIV（电流 - 电压特性）测试仪器。同时也适用于发光二极管（LED）的直流检定和生产测试，可配置为源电流或电压，满足不同 LED 测试需求，在消费产品和汽车 LED 测试中应用广泛。
- 集成电路测试：对于模拟 IC、ASIC、片上系统（SOC）等集成器件，可进行 I-V 功能测试和表征，能精确测量器件的电流、电压特性，帮助工程师评估器件性能，检测潜在缺陷，在集成电路的研发和生产测试环节起着重要作用。
- 分立器件和无源器件测试：可用于两端口传感器、磁盘头、金属氧化压敏电阻（MOVs）、二极管、齐纳二极管、电容器、热阻器等分立器件和无源器件的测试，测量其电气参数，确保器件符合质量标准。
- 晶体管测试：适合测试晶片上或包装零件内的晶体管，能够捕获漏电波形系列、测量门限电压、门电路漏电和跨导等参数，为晶体管的性能评估和质量控制提供关键数据。
- 其他电子元件测试：还可用于三端口小信号双极晶体管（BJTs）、场效晶体管（FETs）等元件的测试，以及一些简单 IC、光器件、驱动器、开关、传感器、转换器、稳压器等电子元件的相关测试工作，满足电子仪器仪表行业中多种类型元件的测试需求。
