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测试测量仪器,光通信设备
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- 带宽可选：具备 20/30GHz 或 20/33/40/50GHz 可选带宽，可满足不同高速信号测试需求。高灵敏度：本底噪声低，20GHz 带宽时为 310µV，50GHz 带宽时为 600µV，能精确测量微弱信号。采样率高：采样率高达 250kHz，可快速获取信号细节，实现高速信号的准确采集。低抖动：抖动小于 170fs，能为高数据速率信号分析提供精准测量，确保测量结果的可靠性。接口特性：采用 2.4 毫米输入类型，时钟输入连接器为 2.92mm（阴头），标称阻抗 50Ω，时钟输入带宽为 0.5 至 28.5GHz。设计紧凑：紧凑型设计，占用空间小，便于在实验室或生产线上安装使用。
- 配套软件与选件：可搭配多种软件，如 N1094B-200 增强抖动分析软件、N1094B-201 高级波形分析软件、N1094B-401 高级眼图分析软件等，还可选择如 N1094B-FS1 快速采样率、N1094B-PLK 模式锁定触发硬件等选件，扩展仪器功能。
- 搭配方式：可与用户提供的 PC 配合，通过下载 N1010A Flex DCA 用户界面，组成完整的采样示波器系统。
- 光通信测试：可用于光模块、光纤收发器等光通信器件的性能测试，如测量光信号转换后的电信号眼图、抖动、幅度等参数，确保光通信系统的信号质量和传输稳定性，助力光通信设备研发与生产过程中的质量控制与检测。
- 高速数字电路测试：针对高速数字电路板，如服务器背板、高速接口电路（如 USB4、PCIe 等），能对其传输的电信号进行精确分析，帮助工程师诊断信号完整性问题，如信号衰减、畸变、串扰等，是高速数字电路设计与调试的重要工具。
- 半导体器件测试：在半导体芯片研发与生产中，可用于测试芯片内部高速信号传输特性和外部接口信号性能，对于评估半导体器件的高速性能、优化芯片设计具有重要作用，有助于提高半导体器件的可靠性和性能指标。
- 通信标准合规性测试：通信行业有诸多标准规范，N1094B 可依据相关标准，对通信设备的信号参数进行测量，确保设备符合如 IEEE、ITU - T 等标准要求，帮助企业产品通过相关认证，保障产品在市场上的合规性和兼容性。
