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测试测量仪器,光通信设备
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- 带宽：具备 6GHz 的带宽，且部分型号可升级至更高带宽，能满足高频信号的测量需求。
- 通道与采样率：拥有 4 个模拟通道，每个通道的采样率高达 20GSa/s，可精确采集信号细节。
- 存储深度：每通道标准内存为 50Mpts，可升级至业界领先的 1Gpts，能够捕获更长的信号轨迹，便于对长时间的信号变化进行观察和分析。
- 本底噪声：具有极低的本底噪声，如在 50mV/div 时，本底噪声低至 0.98mV rms，可实现高精度测量。
- 抖动分析能力：具备深入的抖动分析能力（PRBS^23），能对 8.5Gb/s 及以下数据速率进行最精确的实时总抖动（Tj）和随机抖动（Rj）特性分析。
- 硬件加速功能：支持硬件加速去嵌入，可轻松补偿探针、夹具和通道效应，减少测量误差。
- 软件应用：配备 30 多种用于合规、调试和分析的软件应用，包括 SATA 6G、PCI EXPRESS II、HDMI、以太网、DDR 等，还提供预定义的测试套件和完整的报告，方便技术人员执行测试。
- 通信设备测试：在电子仪器仪表行业中，可用于通信基站、光模块等通信设备的研发与生产测试。能对高速串行通信信号，如以太网信号、光纤通信中的光信号转换后的电信号等进行测量和分析，确保信号的质量和传输的稳定性，帮助工程师调试设备，解决信号完整性问题。
- 半导体芯片测试：在半导体芯片设计和制造过程中，用于测试芯片引脚的信号特性，分析芯片内部电路的高速信号传输情况。可检测芯片在不同工作状态下的信号抖动、噪声等参数，为芯片性能优化和质量检测提供依据，有助于提高芯片的良品率和性能。
- 高速电路设计：对于高速 PCB 电路板设计，可帮助工程师验证电路设计的合理性，检测信号在电路板上传输时的反射、串扰等问题。通过对高速信号的精确测量和分析，指导工程师优化电路布局和布线，确保高速电路系统的稳定运行。
- 电子元器件测试：用于测试各类电子元器件，如集成电路、晶体管等的动态特性。通过观察元器件在不同激励下的信号输出，评估其性能指标是否符合要求，为元器件的选型和质量控制提供数据支持。
