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计量检测设备,半导体,电子测试测量仪器
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- 功能集成:将精密电源、实际电流源、6½ 位数字万用表、任意波形发生器、脉冲发生器和电子负载的功能整合于一体,是一款四象限电压 / 电流源和测量仪器。
- 通道特性:为双通道设计,每个通道均可配置为电压源或电流源,通道间相互隔离,支持同步测量与控制。具有 3A 直流、10A 脉冲和 40V 输出的宽量程,可测试大电流器件等。
- 测量精度:具备 6½ 位分辨率,能提供高精度的测量,可精确测量和记录电压、电流数据,测量范围从 10A 脉冲至 0.1fA 和 200V 至 100nV。
- 采样速率:支持高达 10,000 读数 / 秒的采样率,能够捕获瞬态信号,适用于需要高速采样的测试场景。
- 操作与接口:配备 5 英寸高清电容式触摸屏,支持多手势操作,方便用户设置和操作。提供 GPIB、USB、以太网(LXI)等多种远程控制接口,便于与其他设备连接和集成到自动化测试系统中。
- 编程能力:支持 SCPI 和 TSP® 脚本编程,内置基于 Java 的测试软件,通过浏览器即可实现即插即用的 I/V 表征和测试。TSP 技术还可将完整测试程序嵌入仪器内部,提高系统级吞吐量。
- 半导体器件测试:可用于二极管、晶体管、集成电路等半导体器件的 I-V 特性测试,帮助确定器件的性能参数,如导通电压、击穿电压、电流放大倍数等,是半导体研发和生产过程中重要的测试仪器。
- 光电器件测试:对于发光二极管(LED)、激光二极管、垂直腔面发射激光器(VCSEL)等光电器件,能精确测量其驱动电流与发光强度的关系、正向电压等参数,为光电器件的性能评估和质量控制提供依据。
- 材料特性分析:在半导体材料、导电材料等研究中,可用于测量材料的电阻率、伏安特性等,帮助科研人员了解材料的电学性能,为新材料的研发和应用提供数据支持。
- 电路测试与调试:能够为电路提供各种激励信号,模拟不同工作条件,用于验证电路的稳定性和性能,帮助工程师快速定位电路中的故障点,是电路设计和调试过程中的常用工具。
- 自动化测试系统集成:可与其他测试设备集成,构建自动化测试系统。通过编程控制,实现对多个器件或电路的批量自动化测试,提高测试效率和准确性,广泛应用于电子仪器仪表的生产测试环节。