产品描述
Keysight 4155B 是一款高性能的半导体参数分析仪，专为半导体器件和材料的直流特性分析设计。该设备能够独立完成半导体器件和材料的直流特性分析，支持图形、列表、矩阵或Schmoo格式的用户自选显示。其主要功能包括高精度的电流-电压（I-V）测量、电容-电压（C-V）测量、等效泄漏电流测量等，适用于广泛的电子器件测试。

主要特点

• 高精度测量：电流测量范围从1 fA到1 A（20 fA偏移精度），电压测量范围从1 µV到200 V。
• 全自动I-V扫描：支持直流或脉冲模式下的全自动电流-电压扫描测量。
• 可扩展性：最多可扩展至6个源测量单元（SMUs），支持同步应力/测量功能。
• 高压脉冲发生器：配备两个±40 V的高压脉冲发生器单元。
• 时间域测量：支持60 µs至可变间隔的时间域测量，最多10,001个数据点。
• 自动分析功能：内置自动分析功能，包括复杂数学、曲线拟合和图形处理。
• 用户友好操作：操作界面友好，便于定制各种测试。