- 公司简介
- 主营产品
计量检测设备,半导体,电子测试测量仪器
- 产品详情
- 在线询价
- 应用领域
- 测量功能：主要用于器件 I-V/C-V 特性测量、可靠性与耐久性测试等，支持二端、三端、四端电子器件测试。配备 4215-CVU 电容单元可实现飞法（fF）级测量，能满足 MOSFET 栅极电容、存储器件介电特性等先进工艺分析需求。
- 精度与分辨率：具有高精度和亚 fA 级分辨率，独特的远端前置放大器可将 SMU 的分辨率提升至 0.1fA。
- 操作环境：内置嵌入式 PC 机，采用 Windows 操作环境，配备自动记录系统和点击式交互界面，便于加速数据获取。独特的浏览器风格软件界面可根据器件类型组织测试，支持多任务测试及测试序列与循环控制。
- 存储与接口：配置 > 120GB 硬盘，具备 USB 接口及以太网接口，可实现测试结果的大容量存储以及方便与其他设备连接传输数据。
- 模块与配件：集成脉冲式 I-V 功能、Stress/Measure 可靠性测试模块。可连接 Keithley KITE 环境控制外围设备，兼容 Cascade Microtech Summit12K 系列探针台等。还配有多种配件，如 4210-MMPC-C 型高精确三同轴线缆工具箱、LR8028 型成分测试夹具等。
- 材料研究：可帮助研究人员对半导体材料、超导材料等不同材料的电学特性进行准确测量和分析，为新材料开发和现有材料改进提供数据支持。
- 光电子学：用于测量光电二极管和太阳能电池等光电子器件的电流 - 电压特性曲线，帮助研究人员评估器件的效率和稳定性。
- 功率器件测试：可测量功率 MOSFET 和 IGBT 等功率器件的关键参数，如漏电流和开关速度，有助于提高功率器件的性能和可靠性。
- 半导体器件制造：在半导体器件制造过程中，用于对制造中的器件进行测试和质量控制，凭借高精度测量结果确保器件的一致性和可靠性。
- 电子元件故障分析：当电子元件出现故障时，可通过测量其电学特性快速定位和分析故障原因，帮助工程师迅速找到故障点并采取修复措施。
