4155B 半导体参数分析仪
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计量检测设备,半导体,电子测试测量仪器
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- 功能特点：4145A 配备了四个可编程激励 / 测量单元（SMU）、两个可编程电压源单元（VS）和两个电压监测单元（VM）。每个 SMU 通道有电压源 / 电流监测（V）、电流源 / 电压监测（I）和公共（COM）三种操作模式，源电压和源电流可保持恒定，也可线性或对数扫描。
- 测量范围：具有宽测量范围和高分辨率，电压测量范围为 ±1mV 至 ±100V，电流测量范围为 ±1pA 至 ±100mA。
- 显示方式：具备全交互式图形显示功能，测量结果、设置、提示信息等可在基于微处理器的图形显示器上以图形、列表、矩阵和施莫图（Schmoo）四种模式显示。
- 数据存储：内置软盘驱动器，可永久存储用户程序和测量结果，方便数据的保存和后续分析。
- 其他功能：内置图形分析功能，标记和光标功能可提供直接数字读数，线功能可自动计算线斜率和 x-y 轴截距值，有助于对测量数据进行深入分析。
- 集成电路设计：在集成电路（IC）的计算机辅助设计（CAD）过程中，可用于精确测量半导体器件的直流特性，为电路设计提供准确的参数，帮助工程师优化电路设计，提高集成电路的性能和可靠性。
- 新器件评估：对于新研发的半导体器件，如新型二极管、晶体管等，可快速、准确地获取其关键参数，评估器件的性能和特性，助力研发人员了解器件性能，加快新器件的研发进度。
- 材料评估：可用于半导体材料的性能评估，通过测量材料上制成的测试结构的电学特性，了解材料的导电性、杂质浓度等参数，确保材料符合生产要求，为半导体材料的研发和质量控制提供依据。
- 电路设计组件选型：在电路设计过程中，帮助工程师从众多半导体组件中选择符合设计要求的器件，通过精确测量组件的参数，确保所选组件能满足电路的性能指标，提高电路设计的成功率。
- 质量控制与检测：在半导体生产线上，可用于 incoming/outgoing inspection（进料 / 出料检验），对原材料、半成品和成品进行快速检测，确保产品质量符合标准。同时，也可用于半导体工艺控制，实时监测生产工艺中的器件参数，及时发现工艺偏差，调整工艺参数，保证生产过程的稳定性和产品质量的一致性。
