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半导体设备,EMC设备,电子测量仪器
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产品描述
Keithley 2470 是一款功能强大的图形化 SourceMeter SMU(源测量单元)仪器,专为高电压、低电流测量和材料特性分析而设计。它结合了精密的电压和电流源/负载功能,以及高精度的测量能力,广泛应用于半导体器件、材料研究、能源领域及电子器件测试等领域。该仪器具有直观的用户界面和先进的电容式触摸屏技术,支持快速学习和高效操作。
主要特点
- 高精度测量:具备0.012%的基本测量精度和6½位分辨率,支持10 fA/100 nV的测量分辨率。
- 宽范围测量:支持高达1100 V/1 A DC的电压和电流范围,最大功率可达20 W。
- 四象限操作:支持源和汇(四象限)操作,适用于多种测试需求。
- 图形化界面:配备5英寸高分辨率电容式触摸屏,支持图形化操作和快速设置。
- 多通道测试:支持TSP(测试脚本处理)和TSP-Link多通道测试,适用于复杂测试场景。
- 远程控制与数据存储:支持GPIB、USB、Ethernet等接口,支持数据存储和远程控制。
半导体器件测试、电子器件测试、材料特性分析、电池测试




