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计量检测设备,半导体,电子测试测量仪器
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- 主要功能：具有高度灵活的四象限电压和电流源 / 负载，可作为半导体特征分析仪、电压或电流波形发生器、电压或电流脉冲发生器、支持电压和电流读回的精密电源、真电流源、数字万用表、精密电子负载等使用。
- 性能参数：能够提供或吸收高达 3000V@20mA 或 1500V@120mA 的电源，功率可达 180W 直流或脉冲功率；具备 1fA 低电流分辨率；采用双 22 位精度 ADC 和每点双 18 位 1μs 数字转换器，可实现高精度和高速瞬态捕获。
- 软件支持：内含 TSP® Express 特征分析软件、LabVIEW® 驱动和吉时利的 Test Script Builder 软件开发环境，方便用户进行测试脚本编写、数据处理与分析等操作。
- 系统集成：全 TSP® 兼容，可通过 TSP-Link® 技术与其它 2600A 系列数字源表连接，构成最多 32 个节点的集成式系统，也可与 4200-SCS SMU 组合使用，支持多端测试功能。
- 尺寸重量：尺寸为高 89mm× 宽 435mm× 深 549mm，测试台配置（带手柄和腿）为高 104mm× 宽 483mm× 深 620mm，重量约 9.98KG。
- 功率半导体器件测试：可用于二极管、FET 和 IGBT 等功率半导体器件的特征分析与测试，通过提供精确的电压和电流，测量器件的伏安特性等参数，帮助工程师了解器件性能。
- 新材料特性分析：适用于氮化镓（GaN）、碳化硅（SiC）等复合材料与器件的特征分析，满足这些新材料在研发和生产过程中对高电压、高精度电流测量的需求。
- 击穿与漏流测试：能够提供高达 3000V 的电压，可用于各类电子器件的击穿与漏流测试，确定器件在高压下的绝缘性能和可靠性，检测器件是否存在漏电等问题。
- 高速瞬态分析：凭借高速采样能力和两种测量模式，可对器件的高速瞬态特性进行分析，如亚毫秒瞬态特征分析，有助于研究器件在瞬态过程中的电学性能变化。
- 多参数综合测试：由于集成了多种仪器功能，在电子仪器仪表研发生产中，可对一个器件或电路进行多种参数的综合测试，无需使用多种不同仪器，提高测试效率和准确性，例如同时测量电压、电流、电阻等参数，并生成相应波形。
