产品概述QEPRO-XR200-slitsize 专为紫外 - 可见 - 近红外（UV-Vis-NIR）光谱分析设计，波长范围覆盖190-980 nm，结合背照式 CCD 探测器与热电冷却（TEC）技术，可实现低噪声、高量子效率的光谱测量。其核心技术亮点在于用户可更换的狭缝系统（5-200 μm 可选），通过调整狭缝宽度平衡光通量与分辨率，满足从高灵敏度检测到高分辨率分析的多样化需求。产品特点1. 高灵敏度与低噪声性能背照式 CCD 探测器：量子效率高达 90%（典型值），暗电流低至 0.001 e⁻/pixel/sec（TEC 冷却至 - 20℃时），显著优于传统前照式探测器，尤其适合荧光标记物检测与拉曼散射信号分析。热电冷却（TEC）技术：将探测器温度稳定控制在 - 20℃，抑制热噪声干扰，确保长时间测量（如数小时）的光谱稳定性，适合环境监测与工业过程控制。2. 可调节狭缝设计多档狭缝选择：提供 5、10、25、50、100、200 μm 六种狭缝尺寸，用户可根据需求灵活更换：高分辨率模式（如 5 μm 狭缝）：用于解析复杂光谱特征（如分子振动模式），分辨率可达 1.62 nm（FWHM）。高灵敏度模式（如 200 μm 狭缝）：增加光通量，适用于弱光场景（如痕量污染物检测）。模块化接口：狭缝与 SMA 905 光纤接口集成，更换时无需工具，30 秒内即可完成从荧光到吸收测量的场景切换。3. 宽动态范围与稳定性18 位 A/D 转换：可捕捉信号强度的微小差异，例如在制药行业中区分药物活性成分与辅料的吸收光谱。抗干扰设计：非热光学结构与精密机械定位（Kinematic Mounts）减少环境温度波动对波长精度的影响，长期稳定性误差 < 0.1 nm。