产品概述

1. 基础参数与核心配置

波长范围：200–850 nm（UV-VIS 波段），支持高灵敏度紫外区域检测。

检测器：背照式薄型 CMOS 阵列（如 Hamamatsu S11639），量子效率在紫外波段（200–300 nm）显著优于传统 CCD，适合弱光信号分析。

光学分辨率：

标准配置：25 μm 狭缝 + 600 线 / 毫米光栅时，FWHM 为 1.64 nm。

可选配置：若搭配 5 μm 狭缝 + 600 线光栅，分辨率可达 0.8 nm（需定制）。

采集速度：

单次积分时间 10 μs–10 s，最高支持4,500 次扫描 / 秒（取决于计算机性能）。

板载缓存可存储50,000 张光谱，支持离线数据记录与时间戳标记，避免动态过程数据丢失。

2. 硬件设计与接口

模块化结构：支持更换狭缝（5–200 μm）、光栅及光纤接口（SMA 905/FC），灵活调整光通量与分辨率。

通信接口：集成千兆以太网、Wi-Fi、USB 及 RS-232，可远程控制并实时传输数据，适用于工业物联网（IIoT）场景。

物理特性：尺寸 88.9×63.5×52.4 mm，重量 400 g，功耗低至 1.5 W，适合嵌入式系统或便携设备集成。

产品特点

1. 高速动态监测能力

毫秒级响应：10 μs 最小积分时间可捕捉等离子体瞬态发光、激光脉冲等快速事件。

实时处理功能：板载平均算法支持叠加 5,000 张光谱，提升信噪比（SNR）并减少数据传输量，适用于生产线实时分选。

2. 高灵敏度与宽动态范围

紫外增强特性：CMOS 探测器在 200–300 nm 波段量子效率达 40% 以上，可检测痕量气体（如臭氧、NO₂）或生物样品的紫外吸收。

信噪比（SNR）：单次扫描典型值 290:1（@10 ms 积分时间），通过信号累积可进一步提升至 > 1,000:1。

动态范围：单次扫描 5,000:1，结合信号累积可达 85,000:1，兼容高浓度样品与弱信号检测。

3. 稳定性与环境适应性

温度控制：检测器热稳定性达 0.11 像素 /℃，环境温度波动（0–40℃）下仍保持基线稳定。

抗干扰设计：金属外壳与差分信号传输技术有效抑制电磁干扰，适合工厂、实验室等复杂环境。

4. 灵活配置与扩展性

可更换组件：用户可自行更换狭缝、光栅及光纤适配器，例如：

5 μm 狭缝 + 600 线光栅：用于高分辨率光谱分析（如拉曼散射）。

200 μm 狭缝 + 300 线光栅：提升光通量，适用于低强度样品（如荧光检测）。

可选配件：支持积分球、漫反射探头、液体流通池等，扩展至透射 / 反射 / 荧光等多模态测量。