产品描述：

SP90609 是 Ophir 推出的BeamPeek 系列高功率激光光束分析与功率测量系统，核心定位为增材制造（AM，俗称 3D 打印）场景量身定制，专注于绿色（Green）与近红外（NIR）波段激光的关键参数监测。该系统集成激光光束轮廓分析相机、功率计、光束收集器、分束器及光学组件，形成 “一体化测量解决方案”，可在工业环境下实时获取激光焦点尺寸、位置、光束轨迹、功率及功率密度等参数，并追踪参数随时间的变化，为增材制造零件的质量稳定性与生产重复性提供数据支撑，同时具备被动冷却设计与便捷的工业集成能力，适配增材制造生产线的高效运行需求。

特点：

增材制造场景深度适配：精准匹配 AM 工艺需求

参数监测全面性：可同时测量增材制造核心激光参数，包括焦点尺寸、焦点位置（与成型面校准）、激光功率、功率密度，以及 M²、瑞利长度、发散角、腰斑位置 / 宽度等光束质量参数，且能追踪这些参数随时间的变化，及时发现激光漂移、功率衰减等问题，避免因参数异常导致打印件缺陷（如孔隙、变形）；

相机焦点位置优化：相机传感器（焦平面）距设备底座 / 工作台约 70mm（单台设备单独校准），需通过移动工作台至校准值实现光束聚焦，该设计可提升设备的功率耐受能力 —— 支持更高功率激光测量与更长时间曝光，适配 AM 设备连续打印过程中的持续监测需求。