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全自动四探针半导电材料电阻测试仪
粉未电阻率测量仪
高度测量装置;测量范围 15 mm~17 mm,精度 0.01 mm。
试验机;能给试样稳定施加 3.9 MPa±0.03 MPa 压力,线路电压降低于0.5 mV。 电源∶能提供稳定直流 500 mA士0.1 mA。
电压表∶测量精度士0.1 mV,可测量试样两端的电压降。试样筒内径 16.0 mm~16.3 mm。
干燥箱温度可以控制在0 ℃~300 ℃,控温精度士5 ℃,带鼓风。
试样采取和制备焦炭按照 GB/T 1997 规定进行,其他可参照执行。
试样经缩分后将其中1 kg 试样置于鼓风干燥箱内,在 150 ℃±10 ℃干燥 2 h。再破碎至小于 1mm,缩分出 80 g~100 g,其余试样用于保存。
将缩分出的试样经过3次至 4次破碎使其全部通过0.5 mm 的方孔标准筛,取粒度 0.315 mm~ 0.500 mm之间的试样(也可选用根据产品标准或供需双方约定的粒度区间,但报告中需注明粒度区间),制备好的试样不少于 30g混合均匀,贮存在干燥器中备用。
试验步骤称取试样称取3.3g试样,为保证试样高度在 15 mm~17 mm 之间,必要时可调整试样量。
测定将试样筒底和压头短接,然后施加3.9 MPa±0.03 MPa的压力,连好电线并接通电源。调整稳压电源电流,使通过线路的电流为 500 mA士0.1 mA,然后测量线路的电压降V。(该读数应小于1 mV,否则需调整仪器),测定两次取平均值。
在试样筒中加入试样,震实并使试样上表面平整后将试样筒置于试验机内,然后施加3.9 MPa±0.03 MPa的压力,测量样品高度h,连好电线并接通电源,调整稳压电源电流,使通过试料的电流为500mA士0.1mA,然后测量试样的电压降。
测定次数独立地进行两次测定,每次测定均使用未测试过的新试样,取其平均值。
检测时间当试样通过电流开始 3min 内应检测完毕,超时结果做废。
结果计算
按式(1)计算粉末电阻率∶
式中∶-—粉末电阻率,单位为微欧米(μΩ·m);
S——试样筒内横截面积,单位为平方毫米(mm2);
V ——试样与线路电压降,单位为毫伏(mV);
V。--—线路电压降,单位为毫伏(mV);
I —电流,单位为安培(mA);
h——试样颗粒柱的高度,单位为毫米(mm)。
检验结果为两次测定值的算术平均值,保留整数。数值修约按 GB/T 8170 的修约比较法规定进行。
精密度重复性在重复性条件下,大于300μ·m 的样品两次测定结果的差值不大于5%,小于 300μn·m 的样品两次测定结果的相对偏差不大于 8%。
再现性在再现性条件下,大于300μΩ·m 的样晶两次测定结果的差值不大于8%,小于300 μA·m 的样品两次测定结果的相对偏差不大于 10%。
粉末电阻率测试仪的标准操作流程及关键注意事项
一、测试前准备
样品处理
粉末需充分干燥并混合均匀,避免结块或杂质干扰。
称取适量样品(通常1-3g),使用压片机预压成片状(若需压实测试)。
设备检查
确认测试仪已完成短路清零(如鳄鱼夹咬合后R值显示0.000mΩ±0.002mΩ)。
检查电极接触面清洁,避免氧化或污染影响导电性
测试方法选择
| 方法 | 适用场景 | 操作要点 |
| 四探针法 | 高精度测量(如锂电材料) | 电流探针与电压探针需间距一致 |
| 平行圆盘法 | 松散粉末整体导电性评估 | 样品需均匀填充电极间隙 |
| 四端法 | 消除接触电阻 (科研仲裁) | 电流端与电压端严格分离 |
三、操作步骤(以四探针法为例)
装样
将粉末倒入测试模具腔体,刮平表面至与槽口齐平。
连接电极
红色测试线接长柄电极,黑色接短柄电极(不分顺序)。
参数设置
选择量程(如10^-6~10^5Ω·cm)、电压(1-10V)及测试时间(2-5秒)。
启动测量
保持仪器水平,匀速启动测试,实时记录稳定读数。
四、数据计算
电阻率公式:
松散状态:ρ=10R(单位:Ω·cm,R为实测电阻)。
压实状态:需输入样品厚度/直径,仪器自动计算。
五、注意事项
环境控制:温度20-25℃、湿度40-60%,避免静电干扰。
控制:电压测量 需≤±0.5%读数+2字。
维护保养:测试后清洁电极,定期校准标准电阻。
在能源存储和转换装置中,双极板材料的电阻率对装置的性能有着至关重要的影响。低电阻率意味着材料具有良好的导电性能,有利于提高装置的能量转换效率和功率密度。因此,对双极板材料进行低电阻测量对于优化材料性能、提高装置性能具有重要意义。
双极板材料四探针低电阻测试仪的应用
双极板材料四探针低电阻测试仪是专门用于测量双极板材料电阻率的设备。它采用四探针测试法,具有高精度、高稳定性、快速测量等特点。该测试仪在能源材料研究、能源器件制备和质量控制等方面发挥着重要作用。
在能源材料研究方面,双极板材料四探针低电阻测试仪可用于研究材料的导电性能与组成、结构之间的关系,为新材料的设计和开发提供有力支持。通过测量不同条件下材料的电阻率,可以深入了解材料的电子传输性能、载流子浓度和迁移率等关键参数,为材料性能优化提供指导。粉末电阻率测试仪的校准方法及操作步骤
一、校准前准备
环境要求
温度控制在20-25℃,湿度40-60%,避免电磁干扰和机械振动。
仪器需静置平衡至少30分钟(部分设备需1-2小时)以稳定内部元件。
设备检查
清洁电极接触面,确保无氧化或污染。
检查连接线是否老化,鳄鱼夹与香蕉插头接触良好。
二、校准步骤(以标准电阻法为例)
选择标准电阻
使用精密校准电阻,其阻值需接近待测样品预期范围,稳定性 ≤±0.1%。
连接电路
将标准电阻两端通过鳄鱼夹接入测试仪,确保四端法连接(电流端与电压端分离)以消除接触电阻。
调节校准器
打开仪器电路板,找到右下角的三个校正调节器:
上方调节器:校准温度相关参数(如环境补偿)。
中间调节器:校准阻抗/电阻基准值。
下方调节器:微调温度系数(需用小螺丝刀操作)。
顺时针旋转增加校准值,逆时针减小。
验证校准结果
测量标准电阻,对比显示值与标称值, 应≤±0.5%读数+2字。
若超差需重复调节,直至符合精度要求。
三、其他校准方法
四探针法校准
使用已知电阻率的标准片(如硅片),按四探针间距公式验证仪器计算逻辑。
自动校准功能
部分全自动机型支持一键校准,需按说明书加载标准参数文件。
四、注意事项
接触电阻:电极与样品接触压力需一致,避免松动导致 。
温度影响:高温环境下需启用温度补偿功能或修正系数。
定期维护:每月至少校准1次,长期未用需重新校准。
双极板碳毡接触电阻测试仪的标准化操作流程与技术要点,依据 GB/T 20042.6-2011、NB/T 42007-2013 等核心标准及设备厂商操作指南整理:
一、测试原理与设备配置
核心功能
通过镀金电极对“双极板-碳毡-双极板”叠层施加可控压力(步长0.05MPa),采用四端法 实时测量接触电阻,直至电阻变化率≤5%时停止(达到稳态电阻)。
关键硬件组件
压力系统:伺服电缸驱动,范围 30N–10,000N(可定制),精度±0.5%。
电极规格:直径 50mm镀金铜板,接触面积 200mm²,减少边缘效应。
测量模块:电阻范围 10⁻⁸–20kΩ,分辨率 0.01μΩ,支持温度补偿。
(操作示例:碳毡与双极板叠层安装及压力加载过程)
二、标准化操作流程
1. 样品制备与安装
叠层结构:按“双极板-碳毡-双极板”顺序堆叠(碳毡居中夹持),确保接触面无褶皱。
固定夹具:使用专用夹具防止偏移(大尺寸样品需支撑座辅助定位)。
厚度输入:测量叠层总厚度并输入设备(分辨率 0.001mm)。
2. 参数设置
参数项 设定要求 典型值
初始压力 轻接触(避免冲击) 0.05MPa(≈50N)
压力步长 依标准递增 0.05MPa/步
保压时间 每级压力稳定时间 10秒
终止条件 电阻变化率≤5% 自动停止
3. 启动测试
点击软件“自动测试”,设备逐级增压并记录 压力-电阻曲线。
实时显示 接触电阻值(单位:mΩ·cm²)及 压缩位移量。
4. 数据输出
生成报表含 最小接触电阻值、稳态压力点及 离散系数(工业要求≤3%)。
导出 压强-电阻率关联曲线(科研场景需分析斜率变化)。
三、关键注意事项
控制
电极维护:每次测试前用 无水乙醇 擦拭镀金表面,防止氧化层增加接触电阻。
样品平整度:碳毡边缘裁剪整齐,双极板表面粗糙度需 ≤3μm(GB/T 20042.5-2024)。
环境校准:室温 (23±2)℃ /湿度 (50±5)%RH,偏离时启用温漂补偿。
安全操作
测试结束等待 自动放电完成(高压模块指示灯熄灭)。
禁止手部进入压板区间,急停按钮触发后需重启系统。
四、故障排除与设备选型
故障现象 原因分析 解决方案
电阻值跳变 碳毡纤维刺破镀层 更换电极,样品边缘打磨光滑
压力加载中断 丝杠润滑不足或过载 涂抹高温润滑脂,降低移动速度
软件无响应 通讯端口冲突 重启软件并重连COM端口
选型建议:
五、技术演进方向
多参数联测:新一代设备集成 形变传感器,同步输出压实密度-电阻率关联模型。
智能化扩展:AI算法预测 装配压力(如燃料电池堆叠压力优化)。
严格执行 “叠层规范-步进加压-实时校准” 操作链,可精准捕获双极板/碳毡界面接触电阻,为燃料电池堆性能优化提供核心数据。
双极板电阻率测试仪(双极板电导率测试仪)
概述:用于双极板材料本体电阻率和双极板与炭纸之间的接触电阻的测量和分析.
通过PC软件操作界面运行,四探针低阻测量和接触电阻分析,自动生成报表,自动获得压力变化下电阻,电阻率和电导率的变化图谱,样品厚度测量,自动运算.统计分析.
参照标准:GB/T 20042.6-2011质子交换膜燃料电池 第6部分:双极板特性测试方法中四探针低阻测量和接触电阻测试方法及要求;
参数资料:
方块电阻范围:10-6~2×102Ω/□
电阻率范围:10-7~2×103Ω-cm
测试电流范围:0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA
电流精度:±0.1%读数
电阻精度:≤0.3%
软件界面:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率、电阻率、压强等.
测试方式: 四探针测量(体电阻率)和四端法(接触电阻测量)
压力范围:0-1000kg(0-4MPa).
样品形状为正方形(镀金电极为5cm×5cm),面积为25cm2(其他规格定制)
工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<30W
加压方式:自动
样品高度量程和精度:高度测量范围:0.001-10.001mm,测量分辨率0.001mm
温湿度范围:常温-50度;湿度:20%-98%
恒压时间:0-99.9S
标配标准件:a.标准校准电阻1个;b.标准高度校准件1个
工作电源:220±10% 50HZ/60HZ
标配外选购:
电脑和打印机依据客户要求配置;
双极板材料四探针低电阻测试仪是一种用于测量材料电阻率的设备。它在材料科学、电子工程、新能源等领域具有广泛的应用。本文将从双极板材料的特性、四探针测试原理、低电阻测量的重要性以及测试仪的应用等方面进行详细阐述。
双极板材料的特性
双极板材料是一种具有优异导电性能的新型材料,广泛应用于电池、燃料电池、超级电容器等能源存储和转换装置中。它具有高比表面积、良好的电子传输性能、高化学稳定性和长寿命等特点。这些特性使得双极板材料在能源领域具有巨大的应用潜力。
四探针测试原理四探针测试法是一种用于测量材料电阻率的非破坏性测试方法。它通过在被测材料表面放置四个等间距的探针,利用恒流源给外侧两个探针施加电流,同时测量内侧两个探针之间的电压降,从而计算出材料的电阻率。四探针测试法具有测量准确、操作简便、可重复性好等优点,因此在材料电阻率测量中得到了广泛应用。
低电阻测量的重要性
在能源器件制备方面,双极板材料四探针低电阻测试仪可用于对双极板材料的筛选和质量控制。通过对材料的电阻率进行测量,可以确保选用的材料满足器件性能要求,从而提高器件的整体性能。此外,该测试仪还可用于监控器件制备过程中的材料性能变化,及时发现潜在问题,确保器件质量稳定。
在质量控制方面,双极板材料四探针低电阻测试仪可用于对生产线上的材料进行快速、准确的电阻率测量。通过设定合理的电阻率范围,可以对不符合要求的材料进行剔除,从而确保产品质量的稳定性和一致性。此外,该测试仪还可用于对生产工艺进行监控和优化,提高生产效率和降低成本。
总之,双极板材料四探针低电阻测试仪在能源材料研究、能源器件制备和质量控制等方面具有广泛的应用价值。它通过对双极板材料的电阻率进行测量,为能源领域的科技创新和产业发展提供了有力支持。随着科技的不断进步和应用需求的不断提高,双极板材料四探针低电阻测试仪将在未来发挥更加重要的作用。
双极板电阻率测试仪测试原理与方法
垂直电阻率测试
样品置于镀金电极间,施加递增压强(如0.05MPa间隔),记录电阻值直至变化率≤5%。
采用四端法消除接触电阻 ,压力传感器精度需<0.5%。
水平方向方阻测试
四探针法测量,电流范围0.1μA~100mA,通过电压/电流比计算体电阻率。
准备阶段:
清洁电极与样品,确保无污垢;大尺寸样品需支撑防倾斜。
参数设置:
输入最大压强、电极面积、测试间隔时间(如每0.5MPa记录一次)。
执行测试
仪器自动加压并记录数据,软件实时显示电阻-压强曲线。
注意事项
校准要求:每月至少1次零点校准,使用标准电阻验证 ≤0.5%。
环境控制:温度20-25℃,湿度40-60%,避免电磁干扰。
数据导出:测试结果可保存为表格或图谱,支持二次分析。
判断双极板电阻率测试仪性能的核心指标及评估方法:
一、关键性能指标
测量精度
电阻测量 应≤±0.5%(如采用美国CHCONTECH传感器),分辨率需达1μΩ(垂直方向)或0.001mΩ(水平方向)。
压力控制稳定性需≤±0.5%示值(30秒内波动范围)。
测试范围适配性
垂直电阻率:覆盖1μΩ-20kΩ,压力范围0.05-5.0MPa。
水平方阻:支持10-5~105Ω/□(四探针法)。
标准符合性
需满足GB/T 20042.6(双极板)和GB/T 20042.7(炭纸)的测试要求。
二、硬件与功能验证
电极与压力系统
电极材质应为镀金铜板,平行度<0.025mm,确保接触均匀。
压力机构需采用伺服电缸或精密丝杠,步进精度0.01MPa。
自动化能力
全自动机型应支持程序化加压(如0.1MPa间隔采集数据)和实时曲线显示。
数据导出功能需包含批量处理及统计分析(最大值/最小值/平均值)。
三、校准与重复性测试
校准验证
使用标准电阻(如10mΩ、100mΩ)验证仪器 ,偏差需≤0.5%。
定期检查力值传感器零点漂移(每月至少1次)。
重复性测试
对同一样品连续测试5次,电阻值变异系数(CV)应<1%。
四、环境与操作要求
环境适应性
工作温度20-25℃,湿度40-60%,避免电磁干扰。
样品兼容性
需验证仪器是否支持不同尺寸双极板(如4cm²标准样品或定制尺寸)。
五、厂商服务与认证
优先选择提供国家版权软件认证(如测控系统著作权)及完整校准报告的厂商。
(性能评估需结合具体应用场景,如科研侧重精度,产线侧重效率)
粉末及压实密度测试仪 粉体压实密度测试仪
粉末及压实密度测试仪的技术要点和应用解析,结合最新行业标准和设备参数:
一、核心功能与测量原理
压实密度测试
通过伺服电机驱动精密丝杠对粉末加压,测量压缩前后体积变化,计算密度值(公式:压实密
度=质量/压实后体积)。高精度机型可达0.001g/cm³分辨率,压力范围覆盖0.05-5MPa。
应用场景:锂电池极片、制药粉末、催化剂等材料的工艺优化。
电阻率测试
四探针法测量水平方阻(范围10^-5~10^5Ω/□),或两电极法测量垂直电阻(0-1000V电压)
,支持绝缘材料至导电材料的全范围测试。
粉末压实密度标准测试流程的详细步骤及技术要点,综合行业标准与设备操作规范:
一、测试前准备
仪器校准
检查压力传感器零点漂移,使用标准砝码验证力值 ≤±0.5%。
密度计需用标准块(如100g砝码)校准,确保称重精度达0.001g。
样品处理
粉末需干燥(含水率<1%)、过筛(通常目),避免结块影响均匀性。
称取适量样品(锂电池材料通常-g),精确至.1g。
压实密度仪(粉末压实密度仪)操作流程
深圳三思落锤冲击试验机摆锤冲击试验机
粉末压实密度测试仪的操作复杂吗
二、测试流程
装样与预压
将粉末均匀装入模具(圆柱形或方形),避免分层;手动预压消除初始空隙。
模具材质建议选用硬质合金,内壁抛光至Ra≤0.2μm以减少摩擦。
参数设置
根据材料类型设定压力(石墨负极通常10-50MPa)、保压时间(30-60秒)及加压速度(0.1-1MPa/s)。
压实过程
启动自动压实程序,实时监测压力-位移曲线,直至达到目标压力并稳定。
保压阶段需确保压力波动1<±%。
密度计算
测量压实后样件尺寸(游标卡尺精度.mm),按公式计算:
压实密度=质量/(π×半径²×高度)(圆柱体)。
三、数据记录与验证
重复性测试
同一样品重复3次,压实密度偏差应。
环境控制
温度23±2℃、湿度50±%,避免振动干扰。
四、标准依据
锂电池材料:参考GB/T 33-9,压实体积16
通过顶柱高度差计算。
通用粉末:按ASTM B或ISO ,采用定压法或定容法。
注意事项
模具清洁需用无水乙醇,残留粉末会导致结果偏高。
高压缩性材料(如石墨)需分段加压,防止裂纹。
全自动四探针半导电材料电阻测试仪是一种高精度、智能化的设备,主要用于半导体材料、导电薄膜等半导电物质的电阻率、方块电阻等电学性能的自动化测量。以下从核心技术、功能优势、应用场景及典型型号等方面进行详细介绍:
一、核心技术与测量原理
四探针双电测技术
1.精度与量程
电阻率范围:需覆盖被测材料特性(如半导体材料通常需10⁻⁷~10⁶ Ω·cm,部分高端型号可扩展至0.0001~8×10¹¹ Ω/□)。
重复性 :优先选择≤0.5%的机型(如美能CHT-4500RH动态重复性达0.2%)。
电流精度:±0.1%的电流输出可保障微弱信号检测(如纳米材料需0.1μA档位)。
2.自动化能力
探针控制:探针压力需可调(100-500g),避免损伤柔性材料(如ITO薄膜)。
测试模式:支持单点、多点扫描(如24点晶圆面扫描)及自动生成2D/3D电阻分布图。
通过外侧两根探针注入电流,内侧两根探针测量电压降,结合范德堡法消除几何尺寸、边界效应及探针游移 ,显著提升测量精度(重复性 ≤0.5%)。部分机型支持正反向电流切换,进一步修正接触电阻影响。
二、应用场景适配
1.样品类型与尺寸
晶圆/方片:根据尺寸选择载台(如2-12寸圆形晶圆或230mm×230mm方片适配器)。
特殊材料:
高温材料(如非晶合金)需红宝石轴承探针耐磨损;
粉末/薄膜样品需真空吸附载台防位移。
行业需求差异
半导体制造:关注边缘修正能力(边缘1.5mm内可测)及抗干扰设计。
新能源领域:太阳能电池电极需1A大电流型号。
全自动化系统
集成PC控制软件,实现探针压力(100-500g可调)、测试点位(单点/多点扫描)、电流档位(0.1μA~1A)的自动调节,单点测试时间可缩短至秒级。
三、功能扩展与可靠性
1.智能分析系统
软件需支持ASTM/国标(如GB/T 1552),自动导出Excel并计算变异系数。
温度自适应补偿功能(标准不确定度≤0.3%)。
2.硬件耐久性
探针材质:碳化钨针寿命≥500次测试,优于高速钢针。
防护设计:急停功能、误操作保护及限位量程。
高精度与宽量程
电阻率范围:10⁻⁷~10⁶ Ω·cm,方块电阻覆盖10⁻⁶~10⁶ Ω/□,电流精度±0.1%。
内置温度补偿与电压自适应切换,标准不确定度≤0.3%(优于传统手动仪器的±5%)。
智能化分析
四探针测试技术作为一种精密的电学测量方法,在多个工业和研究领域有广泛应用,以下是其主要应用领域:
半导体材料研究
用于测量硅(Si)、锗(Ge)、砷化镓(GaAs)等半导体材料的电阻率和载流子浓度
可确定半导体材料的掺杂类型(正极和负极)和电子迁移率
在半导体工艺检测中用于评估金属化/离子注入/扩散层质量
薄膜材料分析
测量薄膜材料的方阻和电阻率分布,如ITO/AZO导电薄膜
评估石墨烯薄膜的方块电阻和均匀性
测试钙钛矿太阳能电池电极材料的导电性能
光伏行业应用
单晶硅、多晶硅、非晶硅太阳能电池片的电阻率测试
对最大230mm×230mm样品进行快速扫描,获得电阻率分布图
评估电池片不同区域的导电性能一致性
功能材料检测
碳纳米管、石墨烯、纳米线等纳米材料的电学特性表征
热电材料、导电纤维、复合材料的电阻率测量
形状记忆合金、非晶合金等新型合金材料的导电性能评估
工业质量控制
锂离子电池用铜箔电阻率的测定
PCB互连电阻检测(焊点、过孔等)
陶瓷材料(如氧化铝、氮化硅)的电阻率测试
四探针法因其高精度(动态测试重复性可达0.2%)、宽测量范围(1μΩ~100MΩ)和非破坏性测试的特点,成为这些领域不可或缺的检测工具。随着新材料技术的发展,其应用领域还在不断扩展。





