86143B 光谱分析仪
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光通信设备,通用仪器
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产品概述
该仪器属于安捷伦 8614xx 系列光谱分析仪，采用双通过单色仪设计，工作波长范围覆盖 600 - 1700nm，可涵盖光通信中的 S、C 和 L 波段。其波长精度达 10pm，重复性为 ±0.002nm，分辨率带宽可在 0.06nm - 10nm 之间灵活选择；在 0.1nm 分辨率带宽下动态范围高达 70dB，灵敏度依波长不同在 - 60dBm 至 - 90dBm 之间，其中 1250 - 1610nm 波段开启斩波模式时动态范围可达 - 70dB，能精准捕捉微弱光信号。此外，它还可搭配 004（1310/1550nm EELED 光源）和 006（波长校准器）等选件，进一步拓展测量能力。
产品特点
测量高效精准：采用快速双扫描方式，最高扫描速率可达 56.3 毫秒内完成 40nm 的扫描，50nm 波段扫描周期不足 180ms，能快速获取测量数据。同时低偏振相关性的特性，避免了偏振因素对测量结果的干扰，保障了 WDM 系统测试等场景下的数据可靠性。
操作与扩展便捷：自带板载测量应用程序，设计简洁易操作，操作人员无需大量培训即可上手，还能灵活定制测量方案。配备 LAN、GPIB、并行打印口等多种接口，支持 VGA 外接显示和键盘鼠标连接，同时兼容 LabVIEW、Visual Basic 等软件平台，可实现远程控制与数据快速传输，也能适配多种 81000 系列连接器接口。
环境适应性强：机身结构设计可靠，能在 0℃ - 55℃、95% 湿度的环境下稳定工作，即便长时间连续运行，也能保持测量性能稳定，适配工业生产和实验室等不同场景的使用需求。
光通信 WDM 系统测试：是波分复用组件和系统测试的核心设备，可对 WDM 网络中的光源、放大器及无源元件开展快速且可重复的测量，比如检测光放大器的增益特性、无源元件的损耗情况等，保障 WDM 系统稳定运行。
光学元器件研发与生产：在激光器、光耦合器、光滤波器等光学元器件的研发和生产过程中，可精准测量器件的光谱参数，以此判断元器件性能是否达标，助力优化产品设计、提升出厂质量。
科研实验室光谱分析：在光学相关科研领域，可用于开展光谱特性研究实验。例如配合其他光学设备分析材料的光吸收、发射光谱等，其高波长精度和灵敏度能为科研实验提供可靠的数据支撑，也可用于校准其他光学测量仪器。
