产品概述

该设备以 OFDR 技术为核心，利用高频扫描激光与相干探测原理，实现对光纤及光纤器件的高分辨率分布式测量。其波长覆盖范围为 1525–1605nm（C 波段），空间分辨率可达20μm，测量距离最长支持 200m，动态范围优于 65dB，能精准捕捉光纤沿程的微小损耗变化、折射率波动及几何结构缺陷。设备搭载一体化操作软件，支持实时数据采集、曲线可视化分析及报告自动生成，可直接连接 PC 端运行，无需额外复杂配置，同时兼容单模光纤（SMF-28e + 等）、保偏光纤等多种光纤类型，是实验室研发与工业质检的紧凑型测量工具。

产品特点

超高分辨率与测量精度：20μm 的空间分辨率远超传统 OTDR（光时域反射仪），可识别光纤接头、微弯、熔接点等微米级缺陷；长度测量精度优于 ±0.01m，损耗测量精度达 ±0.01dB，能满足光纤器件研发中对微小参数变化的检测需求。

宽动态范围与快速扫描：65dB 以上的动态范围可覆盖长距离光纤的弱损耗测量，且扫描速度快，单次全量程测量时间小于 10 秒，支持连续扫描模式，便于实时监测光纤在温度、应力等外界条件变化下的参数波动。

操作便捷且数据兼容性强：配套软件支持自定义测量参数（扫描频率、采样点数等），测量结果可导出为 CSV、PDF 等格式，方便与其他分析软件联动；设备体积小巧，采用模块化设计，可集成至自动化测试平台，也可作为便携式设备用于现场检测。

多参数同步测量：除基础的长度、损耗测量外，还能同步分析光纤的折射率分布、偏振态变化及模式场分布，一站式获取光纤及器件的多项关键性能指标，减少多设备测试的繁琐流程。