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产品概述
该模块分为 20W 和 40W 两个版本,核心是为 PXI 测试系统提供精准的电压、电流源及测量解决方案。其电压输出范围为 ±200V,直流电流范围 ±1A,脉冲电流可达 ±3A,脉冲功率最高能到 500W,脉冲宽度可短至 50 微秒。依托模数转换技术,它的电流测量分辨率达 100 飞安,还支持最高 1.8MS/s 的高速数据采集,既能满足精微参数测量需求,也能高效捕捉信号动态变化。此外设备需预热 30 分钟,且建议安装在槽位散热能力≥38W 的机箱中,40W 版本则推荐≥58W 散热能力的机箱以保障性能。
产品特点
适配性强,测量稳定:搭载专属的 SourceAdapt 技术,可针对性调节瞬态响应以匹配不同负载特性,有效减少过冲和振荡问题,面对电容性等感性负载时也能保持测试稳定性,大幅降低被测器件因测试冲击受损的概率。同时配备远程感应端子和保护端子,前者可补偿线缆、连接器的电压损耗,后者能减少线缆和测试夹具中的寄生漏电阻与电容干扰,进一步提升测量精度。
测试高效,适配多样需求:短至 50 微秒的脉冲宽度,既能加快测试进程,又能减少被测器件的发热,避免额外添加散热装置。其确定性硬件时序设计减少了软件运行的额外开销,配合高速设定值切换与数据采集能力,适配批量生产中的快速测试需求。且支持恒压、恒流两种模式,四象限运行特性可灵活实现电源输出与负载吸收功能,适配不同测试工况。
半导体与集成电路测试:是集成电路(IC)、电源管理芯片(PMIC)、射频集成电路(RFIC)等器件的核心测试设备。不管是实验室中对这类芯片的功耗、耐压等特性进行细致表征,还是产线中开展批量的板级测试,它都能精准输出和测量相关电参数,验证芯片性能是否达标。
光电子与分立器件测试:适用于 LED、光收发器等器件的生产与实验室测试。例如在 LED 批量生产中,可通过精准电流输出测试其发光效率与正向压降,脉冲测试模式还能避免 LED 因持续发热影响测试结果,保障质检准确性。




