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产品概述
AWG710 定位为高速单通道任意波形 / 函数发生器,核心提供 4.0 GS/s 采样与高保真信号生成,含 1 路差分模拟输出 + 2 路任意标记输出,支持 16.2 M/32.4 M 点记录长度(可选),内置 EZ 函数模式与波形编辑器,适配长序列信号仿真与实时时序控制,兼容 GPIB/LAN 远程控制,覆盖半导体验证、通信链路与存储 / 射频器件的高速信号激励与测试。
产品特点
高速精准信号生成:4.0 GS/s 采样,1.25 GHz 基础带宽(Option 02 至 2 GHz),8 位垂直分辨率;标记输出 1.6 ps RMS 抖动,300 fs 边沿时序分辨率,保障高速时序与信号保真。
长序列与灵活编辑:16.2 M/32.4 M 点记录长度,支持无限波形循环、跳转与条件分支;EZ 模式快速生成正弦 / 方波 / 三角波 / 脉冲 / 直流,波形编辑器支持图形 / 表格创建,适配复杂与长信号仿真。
高效远程与时序控制:GPIB+LAN 双接口,支持实时测序与外部时钟输入,适配自动化测试与多仪器同步,降低高速测试的时序与集成复杂度。
兼容升级与场景适配:与 AWG710B 硬件兼容,可升级记录长度与带宽;单通道差分输出适配高速数字、射频与存储接口的单端 / 差分激励,平衡性能与成本。
半导体设计验证:高速数字 IC 的信号激励与时序容限测试,标记输出同步触发示波器 / 逻辑分析仪,适配 DDR/PCIe 等接口的长序列信号仿真。
通信与射频测试:1–2 GHz 射频前端 / 滤波器 / 混频器的激励信号生成,模拟通信链路的复杂调制与干扰信号,支持 20–200 MHz 带宽的信号仿真。
存储与工业电子:硬盘 / SSD 读写通道的长序列信号回放,旋转介质与高速接口的时序与信号完整性验证,适配存储器件量产测试。
科研与教育:高速电路 / 射频系统的原型验证,信号处理算法与干扰模拟,适配高校与科研机构的多场景高速信号实验。




