GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数测试仪GDAT-S是电子元器件设计、检验、质量控制和生产测试强有力的工具。其超高速的测试速度使其特别适用于自动生产线的点检机，压电器件的频率响应曲线分析等等。其多种输出阻抗模式可以适应各个电感变压器厂家的不同标准需求。GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数测试仪GDAT-S是符合 LXI 标准的新一代阻抗测试仪器，其 0.1%的基本精度、20Hz ～ 5MHz 的频率范围可以满足元件与材料的测量要求，可测量低 ESR 电容器和高 Q 电感器的测量。可用于诸如传声器、谐振器、电感器、陶瓷电容器、液晶显示器、变容二极管、变压器等进行诸多电气性能的分析。

ε和D性能：

固体绝缘材料测试频率20Hz～2MHz的ε和D变化的测试。

ε和D测量范围：ε：1～105，D：0.1～0.00005，

ε和D测量精度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。

测试参数 :C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

测试频率 :20 Hz～2MHz,10mHz步进

测试信号电:f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）平 :f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

输出阻抗:10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

基本准确度 ;0.1%

显示范围 :

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C :0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR :0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

显示范围 :

Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D :0.0001 ～ 9.9999

Q :0.0001 ～ 99999

θ :-179.99°～ 179.99°

测量速度 ;快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）

中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校准功能 :开路 / 短路点频、扫频清零，负载校准

等效方式 :串联方式, 并联方式

量程方式:自动, 保持

显示方式 :直读, Δ, Δ%

触发方式 :内部, 手动, 外部, 总线

内部直流偏 :电压模式-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进

置源 :电流模式（内阻为50Ω）-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进

比较器功能:10档分选及计数功能

显示器;320×240点阵图形LCD显示

存储器 :可保存20组仪器设定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 :LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB（选件）

工作频率范围：20Hz～2MHz 数字合成，

精度：±0.02%

电容测量范围：0.00001pF～9.99999F 六位数显

电容测量基本误差：±0.05%

损耗因素D值范围：0.00001～9.99999 六位数显

介电常数测试装置（含保护电极）： 精密介电常数测试装置提供测试电极，能对直径φ10～56mm，厚度<10mm的试样精确测量。

它针对不同试样可设置为接触电极法，薄膜电极法和非接触法三种，以适应软材料，表面不平整和薄膜试样测试。

GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法

1范围

本标准规定了介电幸数和介质损耗角正切值的两种测定方法。方法A为工频(50Hz)下的测定方法,方法B为高频电场下的测定方法。

本标准适用于硫化橡胶。

2规范性引用文件

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款，凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘箱的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的版本。凡是不注日期的引用文件,其版本适用于本标准，

GB/T2941橡胶物理试验方法试样制备和调节通用程序(GB/T 2941-2006.1SO 23529:2004.IDT

3术语和定义

下列术语和定义适用于本标准。

3.1

介质损耗dielectric loss

绝缘材料在电物作用下,由于介质电导和介质极化的滞后效应,在其内部引起的能量损耗。

3.2

损耗角&loss angle &

在交变电场下.电介质内流过的电流向量和电压向证之间的夹角(功本因数角们的余角(8)。

3.3

损耗角正切 tanà loss tangeot 8

介质损耗因数dielectric loss Tactor

介质损耗角正切值。

3.4

介电常数Edielectric constant

绝缘材料在电场作用下产生极化,电容器极板间有电介质存在时的电容量C、与同样形状和尺寸的真空电容量C之比。

注，不同试样,不同电极的真空电容和边维校正的计贷参见附录A.

4测试电极

4.1电极材料

见表1.

4.2电极尺寸

4.2.1板状试样电极

4.2.1.1 方法A:板状电极尺寸见表2,电极如围1所示，

4.2.1.2方法B:采用二电极系统，电极尺寸大小与试样尺寸相等,或电极小于试样尺寸。板状试样电极直径为38.0 mm±0.1 mm,950.0 mm±0.1 mm.70.0 mm士0.1mm。4.2.2管状试样电极4.2.2.1 方法A:管状试样电极尺寸见表3.电极如图2所示。

4.3 电极装置

在进行高频测试时,根据测试频率与测试要求可用支架电极(如图4),当频率大于或等于1MHz且小于10MHz时,宜用测微电极(如图5);当频率大于或等于10MHi时,应用测微电极，

5.1.2 测量范围

損耗角正切(anò);0.001~1;电容(C):40 pF-2 000 pF.

5.1.3电桥测量误差

测量时误差不超过10%，当试样 tanB小于0.001时海量误差不超过0.0001.电容的测量误差不超过5%,标准电容器的tan 应小于 0.0001。

5.1.4 电桥必须有良好的屏蔽接地装置，

5.2方法B

5.2.1方法B的测试仪器有两种,一种是造振升商法(Q表),另一种是变电钠法，5.2.1.1谐振开高法(Q表)

其测试原理图如图7所示，

5.2.1.1.1测量范图

频率为50 Hz~50 MHz,电容 40 pF-500 pF.Q值10~600.5.2.1.1.2测量误差

电容误差:±(0.5%C+0.1pF),Q值±10%;有关仪器的测量误差均为±10%。5.2.1.2变电销法

其测试原理图如围8所示。

试样

6.1试样尺寸

6.1.1 方法A试样尺寸见表4.

6.2试样的制备

试样的制备应符合GB/T 2941的规定.也可以在符合试样厚度尺寸的胶板上用旋转藏刀进行裁切,制样方法的不同,其试验结果无可比性。

6.3试样数量

试样的数量不少于3个。

7硫化与试验之间的时间间隔

试样在硫化与试验之间的时间问隔按GB/T 2941的规定执行。

8试验条件

8.1试样表面应清洁,平滑,无裂纹、气泡和杂质等,试样表面应用慈有无水乙醇的布擦洗，

8.2试样应在标准实验室温度及湿度下至少调节24h。

8.3 当试样处理有特殊要求时,可按其产品标准规定的进行。

9试验步骤

9.1方法A

9.1.1试验电压为1000V-3000V,一般情况下为1000V,电源频率为50 Hz.9.1.2按设备说明书正确的连接。

9，1.3接通电源预热30min。

9.1.4 将试样接人电桥-C,的桥臂中,加上试验电压,根据电桥使用方法进行平衡，读取R。和tans 或C.的值.

9.2 方法B谐振升高法(Q表法)

9.2.1按照Q表的操作规程调整仪器,选定测量频率,测定C和Q的值.9.2.2将试样放入测试电极中,并调节电容器C.,使电路谐振,达到Q值记下调诺电容量C,和的值

9.2.3 将试样从测试电极中取出,调节C,或测试电极的距离,使电路重新谐振,记下C,或测试电极的校正电容值与Q值,并根据测试值计算出损耗角tand与介电常数e.9.2.4其他高频测试仪器按其说明书进行操作,通过测试值计算出捐耗角 tanò 和介电常数e.

10试验结果

10.1 方法A

10.1.1介质损耗角正切值(tand)可在电桥上直接读数,按式(1)进行计算:

tan8 - 2*fR,C,x10-

.-. --- ... .. ..*...--====(1)

式中:

#---3.14;

f-一频率50 Hz1

R.-一固定电阻阻值,单位为欧姆(Ω):

C.-一可变电容值,单位为微法(μF)。

10.1.2介电常数(e)的计算见表6。

10.2

10.2.1电容的计算

10.2.1.1请振升高法

应用支架电慢时按式(7)计算:

应用测微电极时按式(8)计算:

C.-C-G+C.

C.=C1-C,+C.

.. *= …… =…= .…* =**====…=(7)

....-*.…* *=*==--------=(8)

10.2.1.2变电纳法(配用当微电极):

按式(9),式(10)计算￥

.C.=C-C2+C.

其中:C.-11.3a

.….....==.…. ===.==.=====( 9)

=== === === === =*= ..*.==**=( 10)

当电极直径为38 mm 时,则 C.=1/d

式中

C,试样的并联等值电容,单位为皮法(pF):

C、电极间距为试样厚度d,且无试样时谐振电容量,单位为皮法(pF):

C.有试样时谐振电容址,单位为皮法(pF);

C、-一无试样时,调节测微电极达到谐振时,测微电极的校正电容值,单位为皮法(pF);

C’-有试样时,测微电极间距等于试样以度时.浏微电极的校正电容值，单位为皮法(pF);

试样的几何电容量,单位为皮法(pF):

S电极面积,单位为平方厘米(cm):

式中:

C.、Q无试样时,请振电容量及Q值

c.--有试样时,谐振电容量及Q值;

△C一有试样时两次衰减至谐振峰0.707 时,微调电容变化童,单位为皮法(pF);sC.一一无试样时两次衰减至谐振峰0.707 时,微调电容变化量,单位为皮法(pF)。柱，不同试验环境对试验结果的影响因素参见附录 B.0.3试验结果以每组试验结果的中位数表示,取两位有效数字。

试验报告

试验报告应包括以下内容:

)试样编号:

b)本标准编号或本标准名称;

c)试验结果

d实验室温度湿度;

e)试样的规格:

f)测量元件及电极尺寸

g)试样和测试条件的调节;

h)测量方法和测量电路:

试验电压及频率;

试验者:

K)试验日期。