GB/T1693介电常数介质损耗角正切值检测仪是具有多种功能和高测试频率的新型阻抗分析仪，体积小，紧凑便携，便于上架使用。本系列仪器基本精度为0.05%，测试频率高2MHz及10mHz的分辨率，4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面，操作方便简洁。集成了变压器测试功能、平衡测试功能,提高了测试效率。仪器提供了丰富的接口，能满足自动分选测试，数据传输和保存的各种要求。  GDAT-S系列产品是电子元器件设计、检验、质量控制和生产测试强有力的工具。其超高速的测试速度使其特别适用于自动生产线的点检机，压电器件的频率响应曲线分析等等。其多种输出阻抗模式可以适应各个电感变压器厂家的不同标准需求。GDAT-S系列产品以其的性能可以实现商业标准和标准如 IEC 和 MIL 标准的各种测试。  

     GB/T1693介电常数介质损耗角正切值检测仪是符合 LXI 标准的新一代阻抗测试仪器，其 0.1%的基本精度、20Hz ～ 5MHz 的频率范围可以满足元件与材料的测量要求，可测量低 ESR 电容器和高 Q 电感器的测量。可用于诸如传声器、谐振器、电感器、陶瓷电容器、液晶显示器、变容二极管、变压器等进行诸多电气性能的分析。

产品优势

1.变压器参数测试功能

2.高测试速度:13ms/次

3电压或电流的自动电平调整（ALC）功能

4.V、I 测试信号电平监视功能

5.内部自带直流偏置源

6.可外接大电流直流偏置源

7.可直接得到介电常数和介质损耗 不用人工计算

8.可测试电阻

9.4.3寸TFT液晶显示

10.中英文可选操作界面

11.高5MHz的测试频率

12.平衡测试功能13.10点列表扫描测试功能

14.30Ω、50Ω、100Ω可选内阻

15.内建比较器，10档分选和计数功能

16.内部文件存储和外部U盘文件保存

17.量数据可直接保存到U盘

18.RS232C、 USB 、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口

19.高频阻抗分析仪电容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值显示，保证了ε和D值精度和重复性。

20.介电常数测量范围可达1～105

ε和D性能：

▶固体绝缘材料测试频率20Hz～2MHz的ε和D变化的测试。

▶ε和D测量范围：ε：1～105，D：0.1～0.00005，

▶ε和D测量精度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。

▶测试参数 :C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR

▶测试频率 :20 Hz～2MHz,10mHz步进

▶测试信号电:f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）平 :f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)

▶输出阻抗:10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω

▶基本准确度 ;0.1%

显示范围 :

L 0.0001 uH ～ 9.9999kH

C :0.0001 pF ～ 9.9999F

R,X,Z,DCR :0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ

六、显示范围 :

Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S

D :0.0001 ～ 9.9999

Q :0.0001 ～ 99999

θ :-179.99°～ 179.99°

▶测量速度 ：快速，200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz） 。中速， 25次/s, 慢速: 5次/s。

▶校准功能 :开路 / 短路点频、扫频清零，负载校准

▶等效方式 :串联方式, 并联方式

▶量程方式:自动, 保持

▶显示方式 :直读, Δ, Δ%

▶触发方式 :内部, 手动, 外部, 总线

▶内部直流偏 :电压模式-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进

▶置源 :电流模式（内阻为50Ω）-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进

▶比较器功能:10档分选及计数功能

▶显示器;320×240点阵图形LCD显示

▶存储器 :可保存20组仪器设定值

▶USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support) USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

▶接口 :LAN(LXI class C support) RS232C HANDLERGPIB（选件）

▶工作频率范围：20Hz～2MHz 数字合成，

▶精度：±0.02%

▶电容测量范围：0.00001pF～9.99999F 六位数显

▶电容测量基本误差：±0.05%

▶损耗因素D值范围：0.00001～9.99999 六位数显

▶介电常数测试装置（含保护电极）： 精密介电常数测试装置提供测试电极，能对直径φ10～56mm，厚度<10mm的试样精确测量。

▶它针对不同试样可设置为接触电极法，薄膜电极法和非接触法三种，以适应软材料，表面不平整和薄膜试样测试。

▶微分头分辨率：10μm

▶高耐压：±42Vp（AC+DC）

▶电缆长度设置：1m

▶高使用频率：5MHz （选配）

GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法

1范围

本标准规定了介电幸数和介质损耗角正切值的两种测定方法。方法A为工频(50Hz)下的测定方法,方法B为高频电场下的测定方法。

本标准适用于硫化橡胶。

2规范性引用文件

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款，凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘箱的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的版本。凡是不注日期的引用文件,其版本适用于本标准，

GB/T2941橡胶物理试验方法试样制备和调节通用程序(GB/T 2941-2006.1SO23529:2004.IDT

3术语和定义

下列术语和定义适用于本标准。

3.1

介质损耗dielectric loss

绝缘材料在电物作用下,由于介质电导和介质极化的滞后效应,在其内部引起的能量损耗。

3.2

损耗角&loss angle &

在交变电场下.电介质内流过的电流向量和电压向证之间的夹角(功本因数角们的余角(8)。

3.3

损耗角正切 tanà loss tangeot 8

介质损耗因数dielectric loss Tactor

介质损耗角正切值。

3.4

介电常数Edielectric constant

绝缘材料在电场作用下产生极化,电容器极板间有电介质存在时的电容量C、与同样形状和尺寸的真空电容量C之比。

注，不同试样,不同电极的真空电容和边维校正的计贷参见附录A.

4测试电极

4.1电极材料

见表1.

4.2电极尺寸

4.2.1板状试样电极

4.2.1.1 方法A:板状电极尺寸见表2,电极如围1所示，

4.2.1.2方法B:采用二电极系统，电极尺寸大小与试样尺寸相等,或电极小于试样尺寸。板状试样电极直径为38.0 mm±0.1 mm,950.0 mm±0.1 mm.70.0 mm士0.1mm。4.2.2管状试样电极4.2.2.1 方法A:管状试样电极尺寸见表3.电极如图2所示。

4.3 电极装置

在进行高频测试时,根据测试频率与测试要求可用支架电极(如图4),当频率大于或等于1MHz且小于10MHz时,宜用测微电极(如图5);当频率大于或等于10MHi时,应用测微电极，

5.1.2 测量范围

損耗角正切(anò);0.001~1;电容(C):40 pF-2 000 pF.

5.1.3电桥测量误差

测量时误差不超过10%，当试样 tanB小于0.001时海量误差不超过0.0001.电容的测量误差不超过5%,标准电容器的tan 应小于 0.0001。

5.1.4 电桥必须有良好的屏蔽接地装置，

5.2方法B

5.2.1方法B的测试仪器有两种,一种是造振升商法(Q表),另一种是变电钠法，5.2.1.1谐振开高法(Q表)

其测试原理图如图7所示，

5.2.1.1.1测量范图

频率为50 Hz~50 MHz,电容 40 pF-500 pF.Q值10~600.5.2.1.1.2测量误差

电容误差:±(0.5%C+0.1pF),Q值±10%;有关仪器的测量误差均为±10%。5.2.1.2变电销法

其测试原理图如围8所示。

试样

6.1试样尺寸

6.1.1 方法A试样尺寸见表4.

6.2试样的制备

试样的制备应符合GB/T 2941的规定.也可以在符合试样厚度尺寸的胶板上用旋转藏刀进行裁切,制样方法的不同,其试验结果无可比性。

6.3试样数量

试样的数量不少于3个。

7硫化与试验之间的时间间隔

试样在硫化与试验之间的时间问隔按GB/T 2941的规定执行。

8试验条件

8.1试样表面应清洁,平滑,无裂纹、气泡和杂质等,试样表面应用慈有无水乙醇的布擦洗，

8.2试样应在标准实验室温度及湿度下至少调节24h。

8.3 当试样处理有特殊要求时,可按其产品标准规定的进行。

9试验步骤

9.1方法A

9.1.1试验电压为1000V-3000V,一般情况下为1000V,电源频率为50 Hz.9.1.2按设备说明书正确的连接。

9，1.3接通电源预热30min。

9.1.4 将试样接人电桥-C,的桥臂中,加上试验电压,根据电桥使用方法进行平衡，读取R。和tans 或C.的值.

9.2 方法B谐振升高法(Q表法)

9.2.1按照Q表的操作规程调整仪器,选定测量频率,测定C和Q的值.9.2.2将试样放入测试电极中,并调节电容器C.,使电路谐振,达到Q值记下调诺电容量C,和的值

9.2.3 将试样从测试电极中取出,调节C,或测试电极的距离,使电路重新谐振,记下C,或测试电极的校正电容值与Q值,并根据测试值计算出损耗角tand与介电常数e.9.2.4其他高频测试仪器按其说明书进行操作,通过测试值计算出捐耗角 tanò 和介电常数e.

10试验结果

10.1 方法A

10.1.1介质损耗角正切值(tand)可在电桥上直接读数,按式(1)进行计算:

tan8 - 2*fR,C,x10-

.-. --- ... .. ..*...--====(1)

式中:

#---3.14;

f-一频率50 Hz1

R.-一固定电阻阻值,单位为欧姆(Ω):

C.-一可变电容值,单位为微法(μF)。

10.1.2介电常数(e)的计算见表6。

10.2

万集B

10.2.1电容的计算

10.2.1.1请振升高法

应用支架电慢时按式(7)计算:

应用测微电极时按式(8)计算:

C.-C-G+C.

C.=C1-C,+C.

.. *= …… =…= .…* =**====…=(7)

....-*.…* *=*==--------=(8)

10.2.1.2变电纳法(配用当微电极):

按式(9),式(10)计算￥

.C.=C-C2+C.

其中:C.-11.3a

.….....==.…. ===.==.=====( 9)

=== === === === =*= ..*.==**=( 10)

当电极直径为38 mm 时,则 C.=1/d

式中

C,试样的并联等值电容,单位为皮法(pF):

C、电极间距为试样厚度d,且无试样时谐振电容量,单位为皮法(pF):

C.有试样时谐振电容址,单位为皮法(pF);

C、-一无试样时,调节测微电极达到谐振时,测微电极的校正电容值,单位为皮法(pF);

C’-有试样时,测微电极间距等于试样以度时.浏微电极的校正电容值，单位为皮法(pF);

试样的几何电容量,单位为皮法(pF):

S电极面积,单位为平方厘米(cm):

式中:

C.、Q无试样时,请振电容量及Q值

c.--有试样时,谐振电容量及Q值;

△C一有试样时两次衰减至谐振峰0.707 时,微调电容变化童,单位为皮法(pF);sC.一一无试样时两次衰减至谐振峰0.707 时,微调电容变化量,单位为皮法(pF)。柱，不同试验环境对试验结果的影响因素参见附录 B.0.3试验结果以每组试验结果的中位数表示,取两位有效数字。

试验报告

试验报告应包括以下内容:

)试样编号:

b)本标准编号或本标准名称;

c)试验结果

d实验室温度湿度;

e)试样的规格:

f)测量元件及电极尺寸

g)试样和测试条件的调节;

h)测量方法和测量电路:

试验电压及频率;

试验者:

k)试验日期。