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产品概述
PXI-5421 为 3U PXI 单槽模块,核心用于生成标准波形与自定义任意波形,兼具信号源与激励测试能力,是 PXI 自动化测试系统的核心信号激励模块。
核心规格:16 位 DAC、100 MS/s 采样率、单通道输出
波形内存:最大 256 MB(部分版本 512 MB),支持长序列波形存储
输出能力:峰峰值最高 12 V(50 Ω 负载),正弦波最高 43 MHz
同步架构:基于 NI SMC 与 TClk,支持多模块相位相干同步
软件生态:兼容 LabVIEW、LabWindows/CVI,驱动为 NI-FGEN
产品特点
1. 高精度与高动态性能
16 位分辨率+100 MS/s 采样,SFDR 达 91 dBc,噪声密度 - 148 dBm/Hz,信号纯净度高
输出阻抗软件可选50 Ω/75 Ω,衰减 0–51 dB 可调,适配不同测试接口
输出幅度:直接路径 1 Vpp、低增益 2 Vpp、高增益 12 Vpp(50 Ω)
抖动低至 **<1.2 ps rms**(100 Hz–100 kHz 积分),适合时序敏感测试
2. 灵活波形生成
标准波形:正弦(0 μHz–43 MHz)、方波(最高 12.5 MHz)、三角 / 斜波(最高 5 MHz)
任意波形:支持序列链接、循环、分段触发,可生成复杂非周期信号
可选16 位 LVDS 数字模式输出,同步模拟与数字激励
内置数字 / 模拟滤波、数字增益,优化信号质量
3. 强大同步与触发
支持PXI_CLK10、外部时钟、分频 N三种时钟源,PLL 锁相稳定
4 路外部触发输入 + 4 路标记输出,触发灵活
兼容NI-TClk,多模块相位相干同步,构建多通道激励系统
PXI 背板 RTSI/Trigger 总线,实现系统内仪器联动
通信测试
无线通信(GSM、LTE、Wi‑Fi)基带 / 中频信号激励、调制质量验证
射频组件(滤波器、放大器、混频器)频率响应、失真、动态范围测试
通信设备接收机灵敏度、发射机杂散评估
半导体与集成电路
芯片 / ASIC功能验证、时序测试、IO 接口激励
存储器读写时序、信号完整性测试
模拟 / 混合信号 IC线性度、噪声、建立 / 保持时间评估
