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一、产品概述
型号定位:DSA70000B 系列,8GHz 带宽、4 通道,专业级高速串行信号分析仪。
核心硬件:
模拟带宽:8GHz(50Ω)
实时采样率:25GSa/s/ 通道(4 通道同步)
记录长度:31Mpts / 通道(标配),可扩展至250Mpts
上升时间:约98ps(10–90%)
波形捕获率:>300,000 wfms/s(4 通道同时)
显示:12.1 英寸 WXGA 高清触摸屏
接口:TekVPI™探头接口、USB、LAN、GPIB
二、产品特点
超高速采集与信号保真
8GHz 带宽 + 25GS/s 高采样,精准捕获 PCIe、USB、DDR 等高速信号细节。
低噪声前端,垂直噪声低至0.36%(满量程),信号完整性优异。
DPX® 荧光成像:实时密度显示,快速发现偶发毛刺、抖动与异常。
Pinpoint 精准触发系统
支持 A/B 双事件高级触发(边沿、脉冲、码型、串行协议等),可逻辑限定与序列重置。
串行码型触发:支持6.25Gbps NRZ/8b/10b 码型,精准定位协议相关故障。
强大串行总线分析
内置 / 选配PCIe、USB、SATA、SAS、以太网、DDR等高速总线解码、眼图与抖动分析。
支持眼图模板测试、TIE / 周期 / 相位抖动分解、BER 估算,满足高速总线合规性验证。
深存储与高效分析
标配 31Mpts、最大 250Mpts 深存储,支持长时间信号捕获与离线分析。
MultiView Zoom™:多窗口缩放,快速定位与对比信号细节。
高级数学 / 测量:FFT、直方图、趋势图、自定义函数,适配复杂信号分析。
高速数字电路:PCIe、USB4、Thunderbolt、DDR5 等高速总线信号完整性与眼图测试。
通信与数据中心:高速光模块、SerDes、以太网物理层测试与抖动分析。
存储系统:SAS、SATA、NVMe 接口调试与合规性验证。
半导体与芯片:FPGA/ASIC/SoC 高速 IO 验证、高速脉冲与瞬态信号捕获。
射频与微波:高速射频信号、调制信号、干扰与瞬态分析。
