一、产品概述

安捷伦 E4991A 是一款 1 MHz ~ 3 GHz 宽频高精度射频阻抗 / 材料分析仪（高频 LCR 表），采用 RF-IV 射频电流 - 电压直接测量技术，突破传统网络分析仪反射法局限，在宽阻抗范围提供稳定精准测量。专为高频无源器件、射频材料特性分析设计，兼具 LCR 测量、阻抗分析与材料测试能力，是射频元件研发、材料表征、晶圆测试的标杆设备。

二、产品特点

1. 高频宽域精准测量

频率范围：1 MHz ~ 3 GHz，分辨率 1 mHz

基本精度：阻抗测量 ±0.8%

阻抗范围：0.13 Ω ~ 20 kΩ（10% 精度内）Keysight

测量参数：|Z|、|Y|、L、C、R、X、G、B、D、Q、θz 等 15 项参数Keysight

测试信号：AC 电平最高 1 dBm（0.5 Vrms/10 mArms）

2. 核心 RF-IV 测量技术

直接采集射频电压与电流，相比反射法，1/10~10 倍阻抗范围精度更高Keysight

优异 高 Q 值测量能力，适配低损耗射频元件

7mm 精密测试接口，支持多种高频夹具

3. 强大功能与选件扩展

直流偏置（选件 001）：±40 V 或 ±50 mA，模拟器件工作状态

材料分析（选件 002）：1 MHz ~ 1 GHz 介电常数（εr）、磁导率（μr）、损耗角正切（tanδ）测试Keysight

晶圆测量（选件 010）：支持探针台，半导体晶圆级射频元件测试

温度特性（选件 007）：-55℃ ~ +150℃ 变温特性分析

等效电路分析：5 种模型，快速器件建模

4. 易用与系统集成

8.4 英寸彩色 TFT，最多 5 条轨迹、9 个游标、801 扫描点

Windows GUI + 内置 VBA 编程，自动化测试便捷

接口：LAN、GPIB、USB、软盘 / 硬盘，支持 CITIfile 数据格式

兼容多种高频夹具，适配 SMD、片式元件、线材、材料试样