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一、产品概述
4294A 采用 自动平衡电桥 + 四端对（4TP） 测量技术，在 40Hz～110MHz 频段内实现 3mΩ～500MΩ 超宽阻抗测量，基本精度 ±0.08%、相位精度 ±0.05°。内置 ±40V/±100mA 直流偏置，可模拟器件实际工作状态，支持 20+ 阻抗参数（Z/θ/R/X/C/L/D/Q 等）与等效电路拟合，广泛用于元件研发、质检、材料分析与半导体测试。
二、产品特点
宽频高精度测量
频率：40Hz～110MHz、分辨率 1mHz
阻抗：3mΩ～500MΩ、基本精度 ±0.08%
相位：±0.05°、支持高 Q / 低 D精准分析
四端对（4TP）：消除线缆与夹具误差，适配低阻 / 高频
直流偏置与信号电平
直流偏置：±40V 或 ±100mA（内置）Keysight
测试信号：5mVrms～1Vrms、200μArms～20mArms
电平监控：实时监测实际施加信号，确保测量可靠
强大分析功能
等效电路：5 种模型（串联 / 并联 / R-CPE 等）自动拟合
多轨迹 / 游标：4 轨迹、8 游标、极限值判断（Pass/Fail）
扫描模式：频率 / 电平 / 直流偏置三维扫描
数据存储：内置 10MB 非易失内存、支持软盘 / USB 导出
无源元件研发与质检
电容（MLCC / 电解）、电感、电阻、磁珠、滤波器、谐振器
阻抗 - 频率、损耗（D/Q）、直流偏置特性（C-V/L-I）
半导体与集成电路
变容二极管 C-V、封装寄生参数、晶圆介电特性
I/O 端口阻抗、ESD 元件、RFIC 匹配网络测试
材料科学
介电常数 / 损耗（陶瓷 / PCB / 高分子）
磁导率 / 损耗（铁氧体 / 非晶）、压电 / 铁电材料