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一、产品概述
TDS6604B 是泰克 TDS6000B 系列的4 通道、6GHz 带宽、20GS/s 实时采样高性能数字存储示波器，面向高速数字 / 射频设计的验证、调试与一致性测试，主打高带宽、高采样率与深存储的均衡性能，适配 6.25Gb/s 及以上高速串行信号与高频模拟信号测量。
核心定位：6GHz 频段高速信号捕获与分析主力机型，兼顾研发调试与产线一致性测试。
关键规格：4 通道；6GHz 模拟带宽（DSP 增强可优化通带）；20GS/s 实时采样率（4 通道同时）；8bit 垂直分辨率；单通道最大记录长度32M 样点（选件 4M）；50Ω 输入阻抗；10.4 英寸 XGA 彩屏；Windows XP 系统，支持 OpenChoice 软件与远程控制。
硬件架构：双处理器（2.8GHz Pentium 4+583MHz PowerPC），独立通道数字化器，确保多通道同步采集精度。
二、产品特点
1. 高速采集与信号保真
6GHz+20GS/s 均衡性能：4 通道同时满带宽、满采样率采集，无通道间性能折损，精准捕获 6GHz 内高速时钟、串行数据与射频脉冲。
深存储与长时捕获：单通道最高 32M 样点（选件 4M），配合 MultiView Zoom，实现长时波形记录与局部细节放大分析，最长捕获时长 1.6ms。
DSP 带宽增强：通道可选 DSP 滤波，修正幅相特性、平坦化通带，提升高速信号测量保真度。
峰值检测与毛刺捕获：Peak Detect 模式可捕获50ps 窄毛刺，最小触发毛刺宽度 100ps，适配高速瞬态异常捕捉。
2. Pinpoint™ 高级触发系统
超 1400 种触发组合：含边沿、毛刺、欠幅脉冲（Runt）、宽度、跳变时间、超时、码型、建立 / 保持、窗口等触发，支持 A/B 双触发与延迟触发，精准定位复杂信号异常。
高速串行触发：支持 NRZ 码型触发（最高 1.25Gbaud），选件可扩展 8b/10b 协议触发（最高 3.125Gb/s），适配 PCIe、SATA 等高速总线调试。
低触发抖动：典型 1ps RMS 触发抖动，SiGe 技术支撑最高 7GHz 触发灵敏度，保障高频信号触发可靠性。
3. 全面分析与一致性测试能力
50 + 参数测量：覆盖幅度、时间、统计、眼图、抖动等域测量，含眼高 / 眼宽、抖动（RMS / 峰峰值 / 6σ）、Q 因子、消光比等高速串行关键指标。
专用软件选件：
TDSRT-Eye：6.25Gb/s 及以上眼图与串行数据一致性测试。
TDSJIT3：高级抖动分解与分析，定位随机 / 确定性抖动源。
Opt. SM：支持 156 种标准模板测试（含 PCIe、SATA、USB 2.0、Ethernet、Fibre Channel 等）。
1. 高速数字与串行总线
6.25Gb/s 及以上串行链路：PCIe 1.x/2.x、SATA 1.5/3.0G、USB 2.0、XAUI、Fibre Channel、InfiniBand 的眼图、抖动、模板一致性测试与调试。
高速背板与互连：服务器 / 存储设备高速背板、电缆、连接器的信号完整性（SI）、阻抗与时序分析。
高速逻辑与 ASIC：FPGA、ASIC、处理器的高速时钟（≤3GHz）、数据总线验证，毛刺、建立 / 保持违例排查。
2. 射频与微波组件
射频模块测试：6GHz 内功放、混频器、滤波器、开关的脉冲响应、幅频特性、瞬态失真测量。
雷达与通信：脉冲雷达、无线通信（3G/4G 早期）的射频信号捕获、脉宽 / 重复频率 / 包络分析。
3. 半导体与功率电子
功率器件测试：IGBT、MOSFET、电源管理 IC 的高速开关特性、di/dt、dv/dt 与损耗分析。
DC-DC / 逆变器：开关电源、车载电源的瞬态响应、纹波、EMI 噪声测量。