一、产品概述

核心定位

R3767CH 为2 端口、40MHz–8GHz高性能 VNA，内置完整 S 参数测试集，可同时测量 S11/S21/S22/S12，兼顾实验室高精度分析与产线高速批量测试，是通信、射频组件测试的主力机型。

关键规格

频率范围：40MHz–8GHz；分辨率：1Hz；精度：±0.005ppmN

输出功率：40MHz–3.8GHz：+10dBm~-15dBm；3.8GHz–8GHz：≥-13dBm；分辨率：0.01dB

动态范围：100dB（10Hz RBW）；迹线噪声：<0.004dB RMS（10kHz RBW）

测量速度：0.15ms / 点（归一化校准）；0.25ms / 点（2 端口全校准，10kHz RBW）

测试端口：2 端口 N 型（50Ω）；最大输入：+15dBm（40MHz–3.8GHz）；端口偏置：±30VDC/0.5A

显示：7.8 英寸 TFT 彩色 LCD；4 通道、8 迹线；支持直角 / 极坐标 / 史密斯圆图

接口：GPIB（IEEE488）、RS‑232、并行 I/O、3.5 英寸软驱；内置 BASIC 控制器ADVANTEST CORPORATION

物理：424×220×400mm；≤16kg；工作温度 0–50℃

二、产品特点

1. 高速与高吞吐

超高速扫描：0.15ms / 点，大幅提升产线测试效率，1201 点数据传输仅约 60ms

DMA 与双端口内存：数据传输时间降至传统的 1/4，降低系统延迟

快速校准：2 端口全校准 + 1kHz RBW 下，调用 + 单次扫描仅 1.5s

2. 宽动态与高精度

100dB 动态范围：满足高抑制滤波器、低插损器件的阻带 / 杂散测试

电平精度：±0.5dB（40MHz–3.8GHz）；相位精度 ±0.3°（同频段）

完善校准：支持归一化、1 端口、2 端口全校准，消除方向性、源 / 负载匹配、串扰误差

3. 内置 S 参数测试集（C 型核心优势）

集成双 SWR 电桥、功率分配器与半导体开关，自动正反向切换，一键测全 4 项 S 参数

支持 3 端口器件（如双工器）测试，搭配选件适配器可同时测 Tx/Rx 特性

4. 多功能测量与分析

多格式显示：幅度 / 相位 / 群延迟 / 阻抗 / 导纳，史密斯圆图 / 极坐标 / 直角坐标

极限线（PASS/FAIL）：快速判定器件是否合格，支持多区域颜色区分

CDMA 专用分析：门控功能、相位线性度、时域分析，适配 SAW / 介质滤波器测试

编程扫描：扫频中可切换 RBW 与输出功率，优化通带 / 阻带测量精度与速度