一、产品概述

4286A 采用RF-I-V 直接测量技术（非反射法），在 1 MHz–1 GHz 实现宽阻抗精准测量，兼顾高速产线分选与研发高频表征。标配 APC-3.5 测试头与 1m/3m 无误差电缆，内置分选与触点检测，适配自动化产线。

二、产品特点

1. 精准测量技术

RF-I-V 直接测量：相比反射法，在50Ω 以外宽阻抗范围精度更优，尤其适合 nH 级小电感。

先进校准：标配 16195A APC-7 校准套件，消除夹具 / 线缆寄生，提升 Q 值测量可靠性。

触点检测（Rdc）：内置接触检查，减少产线误判。

2. 高速与产线适配

15 ms / 点高速测量，满足批量分选需求。

内置 13-bin 分选比较器，支持多参数 / 多频条件 Pass/Fail 测试。

1m/3m 无误差电缆，可贴近 DUT，适配自动分选机。

列表扫描：支持 10 点多频批量测试。

3. 易用与自动化

前面板按键操作，支持 HP-IBASIC 编程（选件 1C2），自定义测试流程。

兼容 APC-7 夹具（16191A/16192A 等），适配 SMD、高温等场景。

内置软盘存储数据与设置，支持状态保存 / 调用。

三、应用领域

1. 射频元件制造与产测

SMD 射频电感、磁珠、EMI 滤波器：高频 L/C/R、Q/D、阻抗曲线批量测试与分选。

高频电容 / 电阻：自谐振频率（SRF）、损耗因子验证。

产线自动化集成，提升测试吞吐量。

2. 射频研发与设计

无线通信（GSM、WiFi、GPS）模块的射频无源器件高频特性表征。

射频前端、匹配网络、功率放大器的阻抗匹配与损耗分析。

小信号寄生参数、nH 级电感精准测量。

3. 质量与可靠性测试

来料 / 出货检验（IQC/OQC）的高频参数抽检。

配合高温夹具（16194A，-55℃~200℃）进行高低温阻抗特性测试。

元件老化、环境应力后的参数稳定性监测。