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日置(HIOKI)IM3536 是一款支持 DC、4 Hz~8 MHz 宽频范围的高精度 LCR 测试仪(兼具阻抗分析功能),基本精度 ±0.05%,最快测量速度 1 ms,内置 DC 偏压(0~2.50 V),配备 5.7 英寸触摸屏,适用于从研发到产线品控的电子元件与材料测试。
参数详情
测量频率:DC,4 Hz~8 MHz(10 mHz 步进),覆盖低频至高频需求
基本精度:±0.05% rdg(阻抗 Z),θ 角精度约 ±0.03°(代表值),1 mΩ 起保证精度(低阻高精度模式下输出阻抗 10 Ω)
测量参数:Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流电阻)、Ls、Lp、Cs、Cp、D(tanδ)、Q、σ(电导率)、ε(介电常数)等十余种,支持 ε 与 σ 计算(需输入样品尺寸)
信号电平:V 模式/ CV 模式:10 mV~5 V(4 Hz~1 MHz),10 mV~1 V(1 MHz~8 MHz);CC 模式:10 μA~100 mA(4 Hz~1 MHz),10 μA~10 mA(1 MHz~8 MHz)
内置偏压:DC 0~2.50 V(低 Z 高精度模式下限 0~1 V),无需外置偏压源即可测电容电压特性
测量速度:最快 1 ms(FAST 档),支持 连续测量(多条件自动切换)、扫频/电平/偏压扫描(需选配 LCR 应用软件 CN030)
接口:USB(存储/外设)、LAN、GP-IB、RS-232C、EXT I/O(Handler)、BCD 输出;支持 U 盘保存最多 32,000 点数据
功能亮点:接触检查、开路/短路补偿、线长补偿(0/1/2/4 m)、BIN 分选(10 类)、面板存储/调用、触摸屏操作
电源/尺寸:AC 100~240 V,50/60 Hz,50 VA max;330 W × 119 H × 230 D mm,约 4.2 kg
电解电容 / MLCC:按 JIS 标准测试容值随频率/电压变化(10 mV~5 V 可调),测 ESR 与 DC 偏压特性;
电感/线圈:评估自谐振频率(SRF)及 Q 值(0~8 MHz 扫频),支持电源电感 L-Q-Rdc 一机多测;
压电器件与磁性材料:精准定位谐振/反谐振点,分析频率响应;
半导体与新兴器件(SiC/GaN 器件、EDLC):配合外置偏压单元(如 9269-10 或 30 A 电流偏置)测 CV 曲线;
介电材料分析:通过夹具(如 9677)测薄膜/液体 ε 与 σ(需输入电极面积与间距);
产线自动化:高速通测(1 ms)、Comparator BIN、Handler 接口集成,兼容 AOI 系统。
