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XRD D8 ADVANCE Plus 布鲁克Bruker XRD D8 ADVANCE Plus X射线衍射仪

供应商:深圳市晧辰电子科技有限公司
品牌:Bruker/布鲁克
型号:XRD D8 ADVANCE Plus
产地及成色:进口二手
更新时间:2026-06-03 09:29:16
浏览次数:47
产品价格: 面议
供应商联系方式:0755-86016691
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布鲁克 D8 ADVANCE Plus 是面向多用途、高精度材料研究的旗舰级四轴(θ–θ + Φ–Ψ)X射线衍射平台,基于 D8 系列模块化设计,集成 TRIO 光路、DAVINCI 设计与 EIGER2/LYNXEYE XE-T 探测器,支持粉末、薄膜、块体及非环境条件下全自动多几何 XRD/SAXS/WAXS/PDF 分析。‌‌

参数详情

‌X 射线源‌:标配 ‌3 kW 陶瓷 Cu 靶(2.2 kW)‌(可选 Cr、Co、Mo、Ag),‌TWIST TUBE 技术‌支持线/点焦斑免对准切换;‌动态光束优化(DBO)‌ 自动同步发散狭缝、防散射屏与探测器窗口。

‌探测器‌:可选 ‌LYNXEYE XE-T‌(能量分辨率 ‌<380 eV @ 8 keV‌,0D/1D/2D 模式,无需 Kβ 滤片)或 ‌EIGER2 R‌(混合光子计数,真空兼容,支持 GISAXS/GIWAXS);‌无需二级单色器‌即可高效抑制 Fe/Co/Ni 荧光。

‌软件与合规‌:运行 ‌DIFFRAC.SUITE‌(含 EVA、TOPAS、LEPTOS、SAXS、TEXTURE 等模块),支持 ‌21 CFR Part 11 / cGAMP / EU Annex 11‌,提供 ‌布鲁克准直保证‌(Cu/Cr/Co 系统 ‌峰位精度 ≤±0.01° 2θ‌,全谱)。

‌物理规格‌:尺寸约 ‌1868 × 1300 × 1135 mm‌,重量 ‌~770 kg‌(不含附件),需 ‌双/三相电源‌,‌外部水冷‌(非 ECO 版);支持 ‌–4 K 至 2500 K‌、‌10⁻⁴ mbar 至 100 bar‌、‌5–95% RH‌ 非环境附件。

物相定性/定量分析‌(含无标样)

晶粒尺寸/微观应变‌

残余应力与织构‌(sin²ψ 法)

薄膜厚度/外延应变‌(XRR、HRXRD、GID)

纳米结构表征‌(SAXS/WAXS/GISAXS)

无序材料 PDF 分析‌

原位反应/相变‌(电池、催化、高温合金),覆盖‌制药、半导体、金属制造、能源材料、地质、高分子‌等行业