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D8 DISCOVER Plus 是布鲁克（Bruker）推出的高端多功能高分辨X射线衍射仪（XRD），专为粉末、薄膜、外延多层结构及原位/非环境条件下材料的精密表征设计，核心优势在于ATLAS™测角仪（±0.007° 2θ精度）、TWIST-TUBE TXS-HE高亮X射线源（最高6 kW/mm²亮度）和非共面臂（2θ达160°）的集成。
参数详情
X射线源：标配 TXS-HE（Turbo X射线源 High Efficiency），陶瓷管（Cu/Cr/Mo/Ag可选），最大功率达5.4–6 kW（依阳极），线/点焦点可快速切换（0.3×3 mm² 至 ≈0.4×0.4 mm²），亮度 ≥6 kW/mm²；支持 TWIST-TUBE 技术，无需重新对准即切换焦点模式。
测角仪：ATLAS™ 立式测角仪，角度重现性 ≤0.007°（2θ，经NIST SRM 1976认证），最小步进 0.0001°，终身免维护、高刚性设计；可选配 非共面臂，实现 面内衍射（2θ范围达160°） 与超薄层/外延膜分析。
探测器：标配 EIGER2 R 500K（2D混合光子计数探测器），动态范围 >10⁷ cps，支持 0D/1D/2D 模式无缝切换；兼容多类一维/二维探测器（如LynxEye XE）。
光学系统：TRIO Optics（自动切换6种几何：Bragg-Brentano、平行光、高分辨、微区等），MONTEL/MONTEL Plus（高通量聚焦镜），PATHFINDER Plus（自动单色器/狭缝切换）；最小聚焦光束 ≤180×180 µm²（IµS微焦源选配）。
样品台：支持 UMC Plus 150（6英寸晶圆扫描，φ旋转无限制）、各类非环境附件（低温至≈-4 K，高温至≈2500 K，气氛/电化学原位）。
软件：全系集成 DIFFRAC.SUITE + DIFFRAC.DAVINCI，支持自动相分析（EVA）、Rietveld精修（TOPAS）、织构（Texture）、残余应力（LEPTOS）、SAXS/GISAXS、PDF等。
电源/尺寸：单相208–240 V 或三相120–240 V，功率最高6 kW；尺寸约 2020×1680×1290 mm，重量约 945 kg（不含附件）。
薄膜与多层结构：XRR、HRXRD、GID、IPGID、应变/弛豫分析；
粉末与多晶材料：高精度物相定性/定量（含无标样）、晶粒尺寸/微观应变、织构/极图；
半导体与微电子：亚毫米至300 mm晶片的相、应力、取向外延质量检测；
能源材料：电池电极原位/工况XRD、催化剂相变研究；
金属与合金：残余奥氏体、宏观/微观残余应力（sin²ψ法）、织构；
制药与化工：多晶型筛选、溶剂化物/水合物稳定性、API结晶度；
地质与矿物：微区XRD（µXRD，≤100 µm）、包裹体相分析；
软物质与纳米材料：WAXS、SAXS、GISAXS（配合2D探测器）