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VK-X105 是基恩士(Keyence)已停产的形状测量激光显微系统型号,属 VK-X 系列,无激光共聚焦功能,采用白光干涉或双光束干涉原理,非激光共聚焦(区别于 VK-X3000 系列)
参数详情
测量原理:白光/双光束干涉(非激光共聚焦),适用于高精度非接触式3D形貌与高度测量
放大倍率(15"显示器):100×(水平2700 μm × 垂直2025 μm)、200×(1350×1012 μm)、400×(675×506 μm)、1000×(270×202 μm)
物镜对应数值孔径(NA):0.13(100×)、0.3(200×)、0.46(400×)、0.8(1000×);操作距离从22.5 mm(100×)至0.54 mm(1000×)
高度分辨率:约0.5 nm(典型,依赖物镜与模式),重复精度在数十至数百纳米级(如20×物镜下约40 nm)
XY载台:手动,行程约70 mm × 70 mm(部分资料提及,但 VK-X105 通常为简易平台)
控制器:集成于主机或专用模块(非 VK-X1000 系列控制器,后者用于激光共聚焦型号)
半导体封装高度、薄膜台阶、精密模具磨损、表面粗糙度、微结构形貌等非动态、高反射/半透明工件的2D/3D形状测量
不适用于深孔、高斜面或低反射材料(因非激光共聚焦)
