- 产品详情
- 在线询价
- 应用领域
PLM-100 是圣德科一体化台式偏振相关损耗测试仪，基于成熟回损检测技术升级打造，整机集成光源、偏振控制与光功率探测模块，无需多设备拼接搭建测试光路，减少连接带来的测量误差，长期测试稳定性与数据重复性表现优异。设备采用 4 态或 6 态穆勒矩阵测量算法，单次完整 PDL 测量耗时低于 1 秒，0.001dB 超高分辨率可以精准捕捉低 PDL 器件细微性能差异。自带彩色触控屏幕，本地操作直观简便，同时支持网口、USB 远程程控，搭配配套自动化测试软件可接入产线批量检测。
参数详情
核心测量项目：PDL 偏振相关损耗、IL 插入损耗、平均插损，选配 BR 回波损耗
测量分辨率：0.001dB
PDL 测量精度：±(0.005dB + 2% 实测 PDL 数值)
单次测量速度：＜1 秒
测量算法：4 态穆勒矩阵 / 6 态穆勒矩阵可选
内置激光波长：1310nm、1490nm、1550nm、1625nm，最多 4 路
外部光源适配波段：1260–1650nm
回损测量范围（选配）：0 ~ -75dB，回损精度 ±0.4dB
无源光器件质检：耦合器、波分复用器、光栅、偏振器件 PDL 与插损批量检测
光通信研发测试：光子芯片、干涉器件、可调光组件偏振特性表征
来料与出厂品控：光纤组件、光模块无源元件来料核验、成品自动化检测
实验室光学实验：低偏振损耗元器件性能标定、偏振光学相关研究
自动化测试平台：搭配可调谐激光器搭建全波段扫描测试系统