圣德科 RLM-100 是新一代一体化插损回损综合测试仪，专为光纤组件量产产线与实验室研发打造，搭载专利积分球探测器与自研自校准算法，无需返厂年度校准，设备自带触控屏，配套简易上位机软件。仪器分标准、高速两种测量模式，高速模式单波长测试速度大幅领先同类设备，搭配 OSX 光开关可批量测试多芯 MPO 线束，专用滑动探测适配器兼容 LC、高密度 72 通道 MTP/MPO 各类连接器，支持条码自动触发、SCPI 程控与极性检测拓展，无需额外配套电脑即可独立完成全流程检测，整机符合国际光纤测试标准与激光安全规范。

参数详情

测试指标：插入损耗 IL、回波损耗 RL

适配光纤：单模 9/125μm；多模 50/62.5/125μm

工作波长：1310/1490/1550/1625nm（单模）；850/1300nm（多模）

回损测量范围：单模 30~85dB；多模 10~60dB回损精度：30-70dB±1.0dB；70-75dB±1.3dB；75-80dB±2.9dB；80-85dB±3.9dB

插损精度：＜5dB±0.03dB；≥5dB±0.15dB

测试时长：高速模式单波长＜1.5s；标准模式单波长＜5s

探测结构：广域积分球探测器

校准方式：整机本地自校准，自动生成校准报告