4145A 半导体参数分析仪
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测试测量仪器,光通信设备
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- 测量范围：电流测量范围为 1fA 至 1A，电压测量范围为 1μV 至 200V。
- 分辨率：电流分辨率为 10fA，电压分辨率为 1μV。
- 源 / 监测单元：设有四个内置源 / 监测单元（SMU）、两个电压源单元（VSU）和两个电压监测单元（VMU）。
- 测量模式多样：具备全自动 I-V 扫描测量功能，支持直流或脉冲模式。可进行阶梯、脉冲扫描测量，采样（时域）测量，无需变动连接。还能做应力循环测量，如热载流子的注入和快速 EEPROM 测评。
- 可扩展性强：可通过添加 41501B SMU 和脉冲发生器扩展器进行扩展，最多可扩展至 6 个 SMU。配备两个高压脉冲发生器单元（±40V），支持时域测量，测量间隔为 60μs - 可变，最多可达 10,001 个点。
- 操作便捷：具有类似曲线追踪仪的旋钮扫描功能，方便用户快速设置和进行测量。具备自动分析功能，可自动处理和分析测量数据，能轻松抽取如 hFE、Vth 等多种参数。
- 半导体研发：在半导体器件研发过程中，可用于测量和分析半导体材料及器件的电气特性，帮助工程师了解器件性能，优化设计方案。如对新型半导体材料、纳米级器件，如碳纳米管晶体管等的参数测量与特性分析。
- 生产线测试：适用于半导体生产线，可对生产的半导体器件进行快速、精确的直流参数测试，通过内置比较器实现 pass/fail 测试，配合数字 I/O 可快速键合或连接到元件机械手，确保产品质量和生产效率。
- 质量检测与故障分析：作为强有力的故障分析工具，可对半导体器件进行参数检测，帮助检测人员找出器件故障原因，提高产品良品率，常用于半导体器件的质量检测和现场故障分析。
- 科研教学：在高校和科研机构的相关专业中，可用于半导体相关课程的教学实验，以及科研项目中半导体参数的测量与研究，为科研人员和学生提供精确的测量数据。
