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产品概述
DTG5274 定位为中高端数据定时发生器,核心用于高速数字电路、半导体器件与通信接口的信号仿真与定时测试。支持 NRZ 模式 50Kb/s–2.7Gb/s、RZ/R1 / 脉冲模式 50Kb/s–1.35Gb/s,4 个输出模块插槽(最多 8 通道),硬件序列长度 960 位、最大存储 32,000,000 位,0.2ps 延迟控制分辨率,支持主从同步(1 主 1 从),内置二进制 / 格雷码等标准数据码型,兼容 GPIB、LAN 远程控制,适配实验室研发与产线自动化测试,可模拟真实场景的时序与抖动信号。
产品特点
高速高精度定时:最高 2.7Gb/s 数据速率,0.2ps 延迟分辨率,时序控制精准,满足高速芯片、高速接口的严苛定时测试需求。
多模式与码型兼容:支持 NRZ/RZ/R1 / 脉冲等多种输出模式,内置丰富标准数据码型,可自定义复杂序列与抖动,适配不同协议与场景的信号仿真。
灵活扩展与同步:4 槽位支持多种输出模块,主从同步架构扩展通道与速率,适配多通道协同测试,满足多芯片互联与时序验证需求。
高效远程与自动化:支持 GPIB、LAN 远程控制,图形化编辑与离线操作,适配 ATE 系统集成,提升测试效率与可重复性。
半导体测试:用于 SoC、FPGA、高速存储器的时序验证与功能测试,模拟芯片输入信号,验证接口时序裕量与信号完整性。
高速数字接口研发:适配 PCIe、USB4、DDR 等高速总线的协议与信号仿真,生成符合规范的激励信号,助力接口兼容性与性能优化。
通信设备测试:用于光模块、网络芯片的发射端信号仿真,模拟高速数据流与时序抖动,验证接收端灵敏度与误码率。
工业电子与汽车电子:适配车载以太网、SerDes 等高速车载接口,以及工业以太网设备的定时与信号测试,保障通信稳定性。
航空航天与国防:用于雷达、卫星通信等高速数字系统的原型验证与可靠性测试,模拟极端工况下的时序与信号畸变。




