4145A 半导体参数分析仪
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计量检测设备,半导体,电子测试测量仪器
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- 测量功能强大：可测量和分析多种电子设备、材料、有源或无源元件等的电气特性，能监测不同设备中的电流和电压响应。电流测量范围为 1 fA 至 1 A，偏移精度达 20 fA，电压测量范围为 1 μV 至 200 V。
- 扫描测量模式多样：采用直流或脉冲模式的全自动 IV 扫描测量，最多可扩展至 6 个源 / 监视器单元（SMU）。还具备同步应力 / 测量功能，配有两个高压脉冲发生器单元（±40 V）。
- 时域测量能力出色：可进行时域测量，可变间隔为 60 μS，最多可测量 10,001 个点。
- 操作便捷：具有类似于曲线跟踪器的旋钮扫描功能，方便即时测量和查找设置条件，还具备自动分析功能。
- 数据输出与存储方便：测量和分析结果可显示在彩色 CRT 上，能将四个图形存储器中存储的图形叠加比较。数据可通过 HP - IB 或串行接口输出到彩色绘图仪和打印机，也可保存到 3 英寸磁盘上，图形可输出为 HP - GL 或 PCL 格式用于桌面出版软件。
- 内置编程功能：内置 HP Instrument BASIC 控制器，可构建自动测量系统，无需额外控制器，还可通过多功能触发 I/O 功能与外部仪器同步。
- 半导体器件研发与生产：在半导体材料评估、器件表征、封装部件检查和现场故障分析等环节发挥作用，可用于测量半导体器件的 I-V 曲线，如 MOSFET 的 Id-Vds-Vg 特性曲线等，帮助工程师了解器件性能，优化设计和生产工艺。
- 电子元件测试：可对各种有源或无源电子元件进行电气特性测试，确保元件符合质量标准，例如测量二极管、晶体管等元件的参数，为电子电路的设计和组装提供可靠依据。
- 可靠性测试：能执行应力测量循环测试，如热载流子注入和闪存 EEPROM 测试等，评估器件在不同应力条件下的可靠性，为产品的使用寿命和稳定性评估提供数据支持。
- 教学与科研：在高校和科研机构的电子相关专业中，可作为教学和科研工具，帮助学生和研究人员深入了解半导体器件和电子元件的特性，开展相关课题研究，如新型半导体材料性能研究、半导体器件失效机理研究等。
